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型 | 多样品纳米粒度测量系统 |
测量原理 | 动态光散射(光子相关法) |
光源 | 高功率二极管激光器(660nm,70mW) *1 |
探测器 | 高灵敏度 APD |
连续测量 | 多达 5 个样品 |
测量范围 | 0.6纳米~10微米 |
浓度范围 | 0.00001 ~ 40% *2 |
温度范围 | 0 ~ 90°C (带温度梯度功能) *3 |
样品容量 | 方形电池: 1.2mL~, 微量电池: 20μL~ |
大小 | 宽240 X 长480 X 高375毫米 |
功耗 | 交流 100~240V 50/60Hz、250VA |
重量 | 约 18 公斤 |
软件 | 平均粒径分析(累积量法) |
粒度分布分析 (Marquardt/Contin/NNLS/Unimodal) |
|
粒度分布覆盖 | |
负相关函数和残差图 | |
粒度监测仪 | |
粒度显示范围(0.1~106 纳米) | |
分子量计算功能 | |
兼容 21 CFR 第 11 部分 *4 | |
选择 | 痕量细胞(20μL起),荧光滤光片 |
*1 本设备被归类为激光**标准(JIS C6802)的1类。 *2 PS乳胶颗粒:0.00001~10%,牛磺胆酸:~40%
*3 使用带有贴片细胞支架的乌鸦细胞时。
使用5桶电池支架或一次性电池时,15~40°C
*4可选
型 | 自动进样器 AS50 |
测量范围 | 3纳米~10微米 |
浓度范围 | 0.001 ~ 40% |
温度范围 | 15 ~ 40°C |
连续测量 | 多达 50 个样品 |
样品容量 | AS电池 0.4mL~ |
大小 |
宽240 X 深480 X 高275毫米 (纳米SAQLA+AS50:宽480 X 深480 X 高375毫米) |
重量 |
12 千克(纳米 SAQLA+AS50:30 千克 ) |
代理品牌:OTSUKA大塚电子(薄膜测厚仪、偏光片检测、纳米粒度分析仪、ZATA电位仪、相位差膜·光学材料检查设备、液晶层间隙量测设备等)、SANKO三高、NPM日脉、东机产业(粘度计)、CCS(视检查光源)、Aitec(视检查光源)、REVOX莱宝克斯(视检查光源)、EYE岩崎(UV汞灯)、SEN 日森、SERIC索莱克、各类日本光源 索尼克(风速计、流量计等)、坂口电热(加热器、制冷片)、NEWKON新光(针孔机)、NS精密科学(柱塞泵、高压耐腐蚀防爆泵) 、SIBATA柴田科学、SAKURAI樱井
优势品牌:AND艾安得、TOA-DKK东亚电波、JIKCO吉高、RKC理化工业、KYOWA共和、IIJIMA饭岛电子、HORIBA堀场、EXCEL艾库斯、HEIDON新东科学、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC欧阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden东京光电、DSK电通、SAGADEN嵯峨电机、FUNATECH船越龙、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林时计、MACOME码控美、TML东京测器等等各日本品牌工业产品
塔玛萨崎电子(苏州)有限公司代理、直营各日本品牌工业产品,联系人:张小姐
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