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日本Otsuka大塚电子株式会社|塔玛萨崎电子(苏州)有限公司中国代理店 大冢电子以“大冢人创造新产品,改善全球健康”为企业理念,开发、制造和销售医学、测量、物理和化学领域的设备和设备,作为一家用光诊断事物的公司。自1970年成立以来,我们一直在探索患者、医疗保健专业人员、公司和研究机构真正在寻找什么,并一直在思考“只有大冢电子能做什么”和“只有大冢电子能做什么”来解决他们的需求。我们充分利用“测量光的颜色和亮度、测量材料的形状和厚度、测量颗粒的大小和检查人们的健康”等发布时间:2023-12-13 16:51 点击次数:791 次
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(Otsuka Electronics)大塚电子中国代理店 (OtsukaElectronics)大塚电子中国代理店大塚电子(OtsukaElectronics)是设立于1970年的光学测量仪器厂家。苏州公司主营光谱仪、液晶CellGap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备OtsukaElectronics大塚电子有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OL发布时间:2023-07-28 18:10 点击次数:261 次
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OTSUKA大塚电子OPTM膜厚仪的介绍塔玛萨崎电子代理 OTSUKA大塚电子OPTM膜厚仪的介绍塔玛萨崎电子(苏州)有限公司主要代理用于光学特性评价、检测的装置。其装置主要用于LED、OLED、汽车前灯等的光源、照明产业及液晶显示器、有机EL等平板显示产业及相关材料的光学特性评价、检查。 OTSUKA大塚电子OPTM膜厚仪及其必要性,主要应用于功能薄膜行业PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA等,半导体行业Si、氧化膜、氮化膜、SiC、S发布时间:2023-07-28 17:35 点击次数:135 次
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日本otsukael大塚ZETA电位*粒径*分子量测试系统 ELSZNEO ZETA电位·粒径·分子量测试系统·ELSZNEO产品介绍:ELSZseries的***机型,除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位(ZetaPotential,ζ-电位)和粒径测定之外,还能进行分子量测定的装置。作为新的功能,为了提高粒度分布的分离能力,采用了多角度测定。另外,也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池,通过新开发的对应高盐浓发布时间:2023-06-12 16:55 点击次数:238 次
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OTSUKA大塚电子VR行业相位差膜RETS-100nx OTSUKA大塚电子相位差膜RETS-100nx是一种延迟测量设备,适用于所有薄膜,包括OLED偏振板、层压缓速膜和带IPS液晶缓速膜的偏振板。实现超高Re.60000nm的高速、高精度测量。薄膜的层压状态可以通过“无剥离、无损”进行测量。此外,它还配备了简单的软件和校正功能,通过重新放置样品来纠正偏差,从而轻松实现高精度测量。*适合光学薄膜的偏振特性评估,如延迟(双折射相位差)的波长色散评估、方发布时间:2023-06-10 14:08 点击次数:160 次
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OTSUKA大塚电子关于了解薄膜厚度评估 测量方法 1.简介在城市中看到智能手机和平板电脑已经不是什么稀奇了,但事实上,薄膜技术在这些突飞猛进的背后有着巨大的影响。换句话说,半导体是高科技器件的代表,LCD由薄膜堆叠技术组成。此外,只要想想你周围的事物,你就会意识到薄膜作为核心技术正在变得不可计数。?CPU、存储器和其他半导体器件、LCD和其他显示设备、磁盘、光盘和其他存储介质、镜头、在显示设备表面施加的无反射膜、防潮膜等聚合物产品的表面改性膜等。发布时间:2022-09-13 16:37 点击次数:229 次
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日本Otsuka大塚OPTM SERIES显微分光膜厚仪 ● 非接触、非破坏式,量测头可自由集成在客户系统内●初学者也能轻松解析建模的初学者解析模式●发布时间:2022-05-24 09:23 点击次数:260 次
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otsukael大塚RETS-100光学相位差测量仪 本设备是利用瞬间多通道测光检出器和自动大型X-Y平台以及偏光光学系,测定透过型液晶面板面内的cellgap和预斜角(含MVA)的系统。 本Software自动制御偏光Prismunit和MCPD,测量LCDCellGap以及Pre-tilt角的测量。每个Sample品种,会准备Recipe(测量条件File)所以Operator放置Sample后,选择Recipe,即可实现高精度测量。发布时间:2022-05-24 08:58 点击次数:394 次