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OTSUKA大塚电子VR行业相位差膜RETS-100nx

日期:2024-05-21 02:09
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摘要:OTSUKA大塚电子相位差膜RETS-100nx 是一种延迟测量设备,适用于所有薄膜,包括 OLED 偏振板、层压缓速膜和带 IPS 液晶缓速膜的偏振板。 实现超高Re.60000nm的高速、高精度测量。 薄膜的层压状态可以通过“无剥离、无损”进行测量。 此外,它还配备了简单的软件和校正功能,通过重新放置样品来纠正偏差,从而轻松实现高精度测量。

OTSUKA大塚电子相位差膜RETS-100nx 是一种延迟测量设备,适用于所有薄膜,包括 OLED 偏振板、层压缓速膜和带 IPS 液晶缓速膜的偏振板。

实现超高Re.60000nm的高速、高精度测量。

薄膜的层压状态可以通过“无剥离、无损”进行测量。

此外,它还配备了简单的软件和校正功能,通过重新放置样品来纠正偏差,从而轻松实现高精度测量。



*适合光学薄膜的偏振特性评估,如延迟(双折射相位差)的波长色散评估、方向角(光学轴)和粘合角度的自动检测


详细介绍一下RETS-100 和 RETS-100nx

特点





探测器采用多通道光谱仪,可在任意波长下进行高精度延迟(双折射相位差)测量。





  • 通过选择倾斜和旋转阶段(可选),可以进行视角表征,如三维折射率参数分析。
  • 根据测量对象,可以构建自由样品阶段。
  • 微距离(0.1nm*)可以**测量。




测量项目

  • 延迟(双折射相位差)
  • 延迟(双折射相位差)的波长色散
  • 样品倾角
  • 方位角和椭圆率
  • 偏振度测量
  • 光谱测量
  • 色度测量
  • 三维折射率参数分析
  • 海兹*
  • 光弹性*

应用

  • 光学膜相位差膜、椭圆膜、相位差板偏振膜、附加功能偏振膜、偏振板
  • 液晶材料、液晶电池偏振测量偏振光学元件、单元(TN、STN、IPS、VA、OCB)


光学系











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