LEIMAC雷马克|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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leimac雷马克RGB 全彩照明IDDA-KH150RGBHV

根据检测目的自由混合发光颜色在一台照明中复合安装红色、蓝色和绿色 LED。红、蓝、绿三波长复合，成为可见光的全彩照明，可覆盖非常宽的波长范围。由于可以独立调光每个波长，因此可以实现微妙的复合照明颜色。
leimac雷马克全彩照明IDDA-KH120RGBHV

根据检测目的自由混合发光颜色在一台照明中复合安装红色、蓝色和绿色 LED。红、蓝、绿三波长复合，成为可见光的全彩照明，可覆盖非常宽的波长范围。由于可以独立调光每个波长，因此可以实现微妙的复合照明颜色。
leimac雷马克IDDA-KH80RGBHV RGB 全彩照明

根据检测目的自由混合发光颜色在一台照明中复合安装红色、蓝色和绿色 LED。红、蓝、绿三波长复合，成为可见光的全彩照明，可覆盖非常宽的波长范围。由于可以独立调光每个波长，因此可以实现微妙的复合照明颜色。
leimac雷马克全彩照明IDDA-KH150RGBRGB

根据检测目的自由混合发光颜色在一台照明中复合安装红色、蓝色和绿色 LED。红、蓝、绿三波长复合，成为可见光的全彩照明，可覆盖非常宽的波长范围。由于可以独立调光每个波长，因此可以实现微妙的复合照明颜色。
leimac雷马克IDDA-KH120RGB RGB 全彩照明

根据检测目的自由混合发光颜色在一台照明中复合安装红色、蓝色和绿色 LED。红、蓝、绿三波长复合，成为可见光的全彩照明，可覆盖非常宽的波长范围。由于可以独立调光每个波长，因此可以实现微妙的复合照明颜色。
leimac雷马克RGB 全彩照明IDDA-KH80RGB

根据检测目的自由混合发光颜色在一台照明中复合安装红色、蓝色和绿色 LED。红、蓝、绿三波长复合，成为可见光的全彩照明，可覆盖非常宽的波长范围。由于可以独立调光每个波长，因此可以实现微妙的复合照明颜色。
leimac雷马克全彩照明IMAR-80RGBHV

在一台照明中复合安装红色、蓝色和绿色 LED。红、蓝、绿三波长复合，成为可见光的全彩照明，可覆盖非常宽的波长范围。由于可以独立调光每个波长，因此可以实现微妙的复合照明颜色。
leimac雷马克全彩照明IMAR-130RGB

根据检测目的自由混合发光颜色在一台照明中复合安装红色、蓝色和绿色 LED。红、蓝、绿三波长复合，成为可见光的全彩照明，可覆盖非常宽的波长范围。由于可以独立调光每个波长，因此可以实现微妙的复合照明颜色。
leimac雷马克全彩照明IMAR-110RGB

根据检测目的自由混合发光颜色在一台照明中复合安装红色、蓝色和绿色 LED。红、蓝、绿三波长复合，成为可见光的全彩照明，可覆盖非常宽的波长范围。由于可以独立调光每个波长，因此可以实现微妙的复合照明颜色。
leimac雷马克全彩照明IMAR-80RGB

根据检测目的自由混合发光颜色在一台照明中复合安装红色、蓝色和绿色 LED。红、蓝、绿三波长复合，成为可见光的全彩照明，可覆盖非常宽的波长范围。由于可以独立调光每个波长，因此可以实现微妙的复合照明颜色。
leimac雷马克伪同轴落射照明IFVB-20_HV

模拟同轴投影照明，实现高照度、高均匀性、紧凑的外壳半镜可以照射到与相机轴相同的轴上。与 IFVA 系列相比，半镜的改进大大提高了分辨率。由于可以进行正反射检查，因此对表面细划痕的检查、打印和字符检查有效。可用于各种应用，如电路板图案检查和连接器引脚间距测量。
leimac雷马克伪同轴落射照明IFVB-20

模拟同轴投影照明，实现高照度、高均匀性、紧凑的外壳半镜可以照射到与相机轴相同的轴上。与 IFVA 系列相比，半镜的改进大大提高了分辨率。由于可以进行正反射检查，因此对表面细划痕的检查、打印和字符检查有效。可用于各种应用，如电路板图案检查和连接器引脚间距测量。
leimac雷马克照明设备 IFVA-40_HV-ST

直模拟同轴落射照明，实现高光、高均匀度和紧凑的外壳使用半透半反镜，可以在垂直于摄像机轴的轴上进行照射和成像。与 IFVA 相比，在高度方向上的空间更少，从而节省空间。由于可以进行正反射检查，因此对表面细划痕的检查、打印和字符检查有效。可用于各种应用，如电路板图案检查和连接器引脚间距测量。
leimac雷马克照明设备 IFVA-70_-ST

直模拟同轴落射照明，实现高光、高均匀度和紧凑的外壳使用半透半反镜，可以在垂直于摄像机轴的轴上进行照射和成像。与 IFVA 相比，在高度方向上的空间更少，从而节省空间。由于可以进行正反射检查，因此对表面细划痕的检查、打印和字符检查有效。可用于各种应用，如电路板图案检查和连接器引脚间距测量。
leimac雷马克直模拟同轴落射照明IFVA-50_-ST

直模拟同轴落射照明，实现高光、高均匀度和紧凑的外壳使用半透半反镜，可以在垂直于摄像机轴的轴上进行照射和成像。与 IFVA 相比，在高度方向上的空间更少，从而节省空间。由于可以进行正反射检查，因此对表面细划痕的检查、打印和字符检查有效。可用于各种应用，如电路板图案检查和连接器引脚间距测量。
leimac雷马克光源箱IFVA-40W-ST

直模拟同轴落射照明，实现高光、高均匀度和紧凑的外壳使用半透半反镜，可以在垂直于摄像机轴的轴上进行照射和成像。与 IFVA 相比，在高度方向上的空间更少，从而节省空间。由于可以进行正反射检查，因此对表面细划痕的检查、打印和字符检查有效。可用于各种应用，如电路板图案检查和连接器引脚间距测量。