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  • 总代日本小坂KOSAKA表面粗糙度仪 SE800(3D)
    总代日本小坂KOSAKA表面粗糙度仪 SE800(3D)它可以根据ISO，JIS，DIN，ASME和BS等国际标准以及每个国家的新旧标准进行测量。 为此，可以使用各种滤波器、截止值、测量长度和计算方法。
  • kosaka小板精密紧凑高性能的测量仪器SE500A
    国内总代kosak小板精密紧凑高性能的测量仪器SE500A它可强力执行表面粗糙度、波纹度测量和阶梯测量。 它支持多种参数，可以同时分析多个标准。 它是一种精密、紧凑和高性能的测量机，具有高度可扩展性，适用于所有应用。
  • 表面粗度轮廓形状测定仪KOSAKA小坂SEF580A-G18/D
    KOSAKA小坂研究所SEF580A-G18/D（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • 小坂KOSAKA表面粗度轮廓形状测定仪SEF580A-M50
    KOSAKA小坂小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • 表面粗度轮廓形状测定仪SEF580A小坂KOSAKA
    KOSAKA小坂台阶仪小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • 江苏KOSAKA小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A-18/D
    小坂研究所（KOSAKA）SE500A-18/D是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • 日本小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A-58/D
    日本小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A-58/D株式会社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触
  • 代理KOSAKA小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A
    代理KOSAKA小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A株式会社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。
  • 粗糙度轮廓测量DSF-L800小坂台阶仪KOSAKA
    国内总代粗糙度轮廓测量DSF-L800小坂台阶仪KOSAKA这是一款数字表面形状和粗糙度测量机，能够以高分辨率测量宽动态范围。位移检测器中嵌入了一个数字传感器，只需一次扫描即可同时测量“轮廓形状”和“表面粗糙度”。更先进的分析功能，平台表面分析软件和接触点过滤器是标准设备。 标配探测器过载停止功能。
  • SEF800-N粗糙度轮廓测量机KOSAKA国内总代
    SEF800-N粗糙度轮廓测量机KOSAKA国内总代 它集成了表面粗糙度测量机和轮廓形状测量机，一个单元可以进行粗糙度起伏评估和形状评估。表面粗糙度测量它支持国家标准。配备垂直轴和水平轴自动校准功能。自动测量到打印。轮廓形状测量多截面形状分析。强大的宏功能，“一键操作”方式。测量操作支持。
  • KOSAKA表面粗糙度和轮廓形状测量机SEF580A-G18D
    国内总代KOSAKA表面粗糙度和轮廓形状测量机SEF580A-G18D可以进行“表面粗糙度”和“轮廓形状”的两种测量。 触摸面板的使用提供了出色的可操作性，例如“切换测量条件”，并且可以快速响应各种工件的测量。表面粗糙度测量可以在一次测量中分析具有不同标准的参数，并且可以顺利过渡到新标准。轮廓形状测量X轴上的*大测量采样点数高达64，000，可实现高分辨率的长距离测量。
  • 轮廓形状测量机EF800小坂台阶仪kosaka总代
    轮廓形状测量机EF800小坂台阶仪kosaka总代这是一款高性能轮廓形状测量机，具有超高速运动和完整的分析功能。标配探测器过载停止功能。自定义功能允许您设置常用功能的快捷方式。重新测量功能允许轻松重新测量，并且不需要新的程序进行重新测量。
  • KOSAKA小坂台阶仪轮廓形状测量机EF550A总代
    KOSAKA小坂台阶仪轮廓形状测量机EF550A内置分析宏支持为复杂的分析工作节省人力。该测量机具有很高的便携性和安装灵活性。 实时输出功能提供测量的放大形状数据。通过与轮廓剖面分析系统连接，可以进行更**的分析。
  • 苏州轮廓形状测定仪定机EF550A-M58D小坂KOSAKA
    KOSAKA小坂台阶仪小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • 代理小坂KOSAKA轮廓形状测定仪定机EF550A-M58
    小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • 浙江台轮廓形状测定仪定机EF550A小坂KOSAKA
    小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
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