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郑州HORIBA堀场纳米颗粒追踪分析仪ANALYSETTE 28

杭州HORIBA堀场纳米颗粒追踪分析仪ANALYSETTE 28 ViewSizer 3000的三个激光器可同时工作，可在同一样品中收集各种尺寸的*准确的分布和浓度信息。如果某一颗粒来自某一激光的散射光信号太强使检测器达到饱和，软件会自动使用来自较低功率激光器的数据来确保获得*准确的尺寸和浓度信息。另一方面，当来自某一激光的散射光信号太弱而无法检测时，软件会使用更高功率激光的数据来准确跟踪颗
杭州HORIBA堀场纳米颗粒追踪分析仪ViewSizer 3000

杭州HORIBA堀场纳米颗粒追踪分析仪ViewSizer 3000 ViewSizer 3000的三个激光器可同时工作，可在同一样品中收集各种尺寸的*准确的分布和浓度信息。如果某一颗粒来自某一激光的散射光信号太强使检测器达到饱和，软件会自动使用来自较低功率激光器的数据来确保获得*准确的尺寸和浓度信息。另一方面，当来自某一激光的散射光信号太弱而无法检测时，软件会使用更高功率激光的数据来准确跟踪颗粒。
浙江HORIBA崛场半导体激光粒度分析仪mini LA-350

浙江区域供应HORIBA崛场半导体激光粒度分析仪HORIBA LA-350 激光粒度分析仪是一款性能高、价格低、体积小巧的粒径分析仪器。LA-350广泛应用于浆料、矿物和造纸行业等多种领域。基于LA系列分析仪的先进光学设计，LA-350实现了高性能、易操作、低维护和高效益的优点。LA-350体积小巧(297 mm x 420 mm)，可以有效节省实验室空间。除此之外，LA-350巧妙的设计、高质量的制造确保仪器操作方便、测量范围宽 (0.1-1000 µm)和测量结果准确。
无锡HORIBA堀场半导体激光粒度分析仪LA-960V2

无锡供应HORIBA堀场半导体激光粒度分析仪LA-960V2 LA-960V2 秉承 HORIBA 一贯的优异设计**行业方向。其直观的软件、特有的附件和优异的性能将科学认知推向未知世界，是LA系列仪器的突破性演变。
总代HORIBA崛场有机污染物监测仪OPSA-150

总代HORIBA崛场有机污染物监测仪OPSA-150 HORIBA推出采用具有25年以上丰富经验的独特测量方法---「旋转式单元长度调整系统」的新型有机污染物监测仪。此装置可用于以下三个主要方面：水质总量控制中排出口的有机污染物质的监测，水源地取水口处的有机污染物质的监测，工业过程中的有机污染物质的监测，如酚的监测等。
无锡有售HORIBA崛场半导体油分分析仪OCMA-550

无锡有售HORIBA崛场半导体油分分析仪OCMA-550 OCMA-550 用于测量零部件表面的残油和土壤中粘附的油分。整个测量过程十分简单，只需将待测样液加入比色皿，然后放置到仪器内，即可实现测量。人性化的简单设计，单手即可操作测量盖的开/关。对于可以萃取的油分是*好的测量方法，如评估零部件表面的残油，测量食物中的油分。
昆山供应HORIBA崛场半导体油分分析仪OCMA-500

昆山供应HORIBA崛场半导体油分分析仪OCMA-500 加入样液和萃取剂后，只需要按下“ENT”键，就可以自动完成从萃取到排液的整个过程。无需开/关阀门的额外操作，追求测量的快速化。本机型为彩色LCD显示屏，提升了电机搅拌速度，改进了萃取罐设计增加了背光灯，提高了可操作性。
南京供应HORIBA崛场在线监控椭偏仪UVISEL Plus In-Situ

南京供应HORIBA崛场在线监控椭偏仪UVISEL Plus In-Situ UVISEL Plus在线监控椭偏仪可以很容易的安装在各类反应腔（PECVD、MOCVD、磁控溅射、蒸镀、ALD和MBE），实时监控薄膜沉积或刻蚀过程。UVISEL Plus在线椭偏仪结合了速度快、灵敏度高、动态范围宽和准确等优点，使其能够在原子层水平监控沉积/刻蚀，即使过程速度比较快也可实现。
浙江供应HORIBA崛场真空紫外椭偏仪UVISEL2VUV

浙江供应HORIBA崛场真空紫外椭偏仪UVISEL2VUV UVISEL 2 VUV专为VUV 测量设计，整个系统处于真空状态，无氧气吸收。具备高准确性；超快测量速度；快速样品室抽真空能力，方便快速更换样品；氮气消耗量少。光谱范围可覆盖147-2100nm。UVISEL 2 VUV能够在充氮气或抽真空模型下工作。整个机械设计经过优化，氮气消耗量低至6L/min，载样速度快，2分钟内即可完成。真空样品仓门朝向操作人员更便于样品装载
江苏HORIBA崛场智能型多功能椭偏仪Smart SE

江苏HORIBA崛场智能型多功能椭偏仪Smart SESmart SE 是一款通用型薄膜测量工具。测试速度快，准确。它可以表征几埃到20µm薄膜厚度、光学常数（n, k）以及薄膜结构特性（如粗糙度、光学梯度及各向异性等）。Smart SE是一款性价比极高的薄膜研发工具，以经济实惠的价格提供了研究级的性能。标配一套完整样品可视化系统，准确定位分析位置及区域，7个不同尺寸的微光斑可用于微区特征分析。
总代HORIBA崛场椭圆偏振光谱仪UVISEL PLUS

总代HORIBA崛场椭圆偏振光谱仪UVISEL PLUS 光谱范围从FUV到NIR：190-2100nm UVISEL Plus椭圆偏振光谱仪为先进薄膜、表面和界面表征提供了模块化和性能的优化组合。 UVISEL Plus作为一款高准确性、高灵敏度、高稳定性的经典椭偏机型，它采用了PEM 相位调制技术，与机械旋转部件技术相比，能提供更好的稳定性和信噪比。光谱范围从190nm到2100nm。
HORIBA崛场一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE

国内总代HORIBA崛场一键式全自动快速椭偏仪 Auto SEAuto SE是一种新型薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮，几秒钟内即可自动完成样品测量和分析，并提供完整的薄膜特性分析报告，包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性、反射率或透过率。Auto SE全自动化设计、一键式操作，功能齐全。配备自动XYZ样品台进行成像分析，自动切换微光斑，多种附件可选，以满足不同的应用需求。
江苏HORIBA崛场纳米颗粒分析仪粒度仪SZ-100V2

江苏区域供应HORIBA崛场纳米颗粒分析仪粒度仪SZ-100V2纳米技术的研发是一个持续不断的过程，这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸，从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效实现更快的测量速度、更好的设备性能以及更低的设备运行能耗。纳米技术在日常生活中的诸如食品、化妆品和生命科学等很多领域发挥着关键作用。
HORIBA纳米粒度及电位分析仪粒度仪SZ-100-Z2

总代HORIBA纳米粒度及电位分析仪粒度仪SZ-100-Z2SZ-100-Z2 纳米技术的研发是一个持续不断的过程，这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸，从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效实现更快的测量速度、更好的设备性能以及更低的设备运行能耗。纳米技术在日常生活中的诸如食品、化妆品和生命科学等很多领域发挥着关键作用。
总代日本HORIBA纳米颗粒分析仪粒度仪SZ-100-S2

总代日本HORIBA崛场纳米颗粒分析仪粒度仪SZ-100-S2 纳米技术的研发是一个持续不断的过程，这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸，从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效实现更快的测量速度、更好的设备性能以及更低的设备运行能耗。纳米技术在日常生活中的诸如食品、化妆品和生命科学等很多领域发挥着关键作用。