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  • 光谱分布测量系统GP系列
    一种测量照明设备的配光特性的设备。 ・使用内部开发的分光镜可以实现高精度的测量！ -可以与配光数据一起测量颜色！- 即使在光谱测量中，也可以实现相当于照度计的高速测量！ ・根据配光测量结果可以进行照明率分析！!! -符合标准的测量系统！ ・也可以由测量基准部门提供技术支持！ 该设备可处理从室内照明到泛光灯的各种照明设备，并满足多种用途的需求。
  • 超快光谱干涉型测厚仪
    它以超高速，实时，高精度的晶片和树脂非接触方式测量晶片等的研磨和抛光过程。
  • 光谱椭偏仪FE-5000 / 5000S
    除了可以进行高精度薄膜分析的椭圆偏振光谱仪之外，我们还通过实现自动可变测量机制来支持所有类型的薄膜。除了常规的旋转光子检测器方法之外，通过为延迟板提供自动连接/分离机制，还提高了测量精度。 　
  • 膜厚计FE-300
    它是一种紧凑且价格低廉的膜厚计，可通过高精度光学干涉仪以简单的操作实现膜厚测量。 我们采用了一体式的机壳，在主机中容纳了必要的设备，从而实现了稳定的数据采集。 通过以低价获得优良反射率可以分析光学常数。 　
  • 多通道光谱仪MCPD-9800
    多功能多通道光谱检测器，支持紫外线至近红外区域。光谱光谱至少可以在5毫秒内测量。标准光纤无需指定样品类型即可支持各种测量系统。除了显微光谱，光源发射，透射/反射测量之外，还可以通过与软件结合来支持对象颜色评估，膜厚测量等。
  • OTSUKA大冢高灵敏度光谱辐射仪HS-1000
    OTSUKA大冢高灵敏度光谱辐射仪HS-1000
  • 多通道光谱仪MCPD系列，用于膜厚测量
    多通道光谱仪MCPD系列，用于膜厚测量
  • Otsuka大塚|大冢高灵敏度示差折光仪DRM-3000
    Otsuka大塚|大冢高灵敏度示差折光仪DRM-3000Otsuka大塚|大冢高灵敏度示差折光仪DRM-3000Otsuka大塚|大冢高灵敏度示差折光仪DRM-3000
  • 线扫描膜厚仪Otsuka大塚
    线扫描膜厚仪Otsuka大塚线扫描膜厚仪Otsuka大塚线扫描膜厚仪Otsuka大塚
  • SF-3分光干渉式晶圆膜厚仪Otsuka大塚
    SF-3分光干渉式晶圆膜厚仪Otsuka大塚SF-3分光干渉式晶圆膜厚仪Otsuka大塚SF-3分光干渉式晶圆膜厚仪Otsuka大塚
  • 晶圆在线测厚系统GS-300Otsuka大塚
    晶圆在线测厚系统GS-300Otsuka大塚晶圆在线测厚系统GS-300Otsuka大塚晶圆在线测厚系统GS-300Otsuka大塚
  • Otsuka大塚内置膜厚监测仪
    Otsuka大塚内置膜厚监测仪Otsuka大塚内置膜厚监测仪Otsuka大塚内置膜厚监测仪
  • Otsuka大塚膜厚计FE-300薄膜类型
    Otsuka大塚膜厚计FE-300薄膜类型Otsuka大塚膜厚计FE-300薄膜类型Otsuka大塚膜厚计FE-300薄膜类型
  • Otsuka大塚膜厚计FE-300标准型
    Otsuka大塚膜厚计FE-300标准型Otsuka大塚膜厚计FE-300标准型Otsuka大塚膜厚计FE-300标准型
  • Otsuka大塚膜厚计FE-300
    Otsuka大塚膜厚计FE-300Otsuka大塚膜厚计FE-300Otsuka大塚膜厚计FE-300
  • OPTM显微分光膜厚仪OPTM-A3Otsuka大塚
    头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度**反射率（多层OPTM显微分光膜厚仪OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外） 区域传感器的**机制 易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Ots
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