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显微光谱 OPTM Otsuka大冢苏州售

它是一种通过使用显微光谱测量微小区域内的优良反射率，实现高精度膜厚和光学常数分析的设备。可以以非破坏性和非接触的方式测量各种薄膜、晶片、光学材料和多层薄膜等镀膜的厚度。可进行1秒/点测量时间的高速测量。它还配备了软件，即使是初学者也可以轻松分析光学常数。
光谱辐射计 HS-1000Otsuka大冢苏州售

能够从低亮度到高亮度进行高速、高精度测量的光谱辐射亮度计。大冢电子独特的光谱光学设计和信号处理电路采用电子冷却线阵传感器，实现了在宽亮度范围和波长范围内的低噪声和高精度测量。
多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800Otsuka大冢

支持紫外到近红外区域的多功能多通道光谱检测器。光谱光谱可以在*少 5 ms 内测量。标准光纤可以在不指定样品类型的情况下支持各种测量系统。除了显微光谱、光源发射、透射/反射测量外，还可以通过结合软件支持物体颜色评估、膜厚测量等。