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  • 日本大冢量子效率测量系统QE-2100
    日本大冢量子效率测量系统QE-2100 日本大冢量子效率测量系统QE-2100 日本大冢量子效率测量系统QE-2100
  • 日本大冢量子效率测量系统QE-2000
    日本大冢量子效率测量系统QE-2000 日本大冢量子效率测量系统QE-2000 日本大冢量子效率测量系统QE-2000
  • OTSUKA大冢 激光粒度仪
    界达电位OTSUKA大冢量子点评系统界达电位OTSUKA大冢量子点评系统 激光粒径分析仪 激光粒度仪 激光粒径仪 激光散射粒度分布仪 固体表面zeta电位 固体zeta电位 优良分子量测量 分子直径测量 分子量测量 粒度仪 粒径仪 粒度分析仪 粒度测定仪 zeta电位仪 zeta电位测试 zeta电位测量仪 zeta电位测试仪 纳米粒径分析仪 zeta电位测定仪 nanoSAQL 纳米粒度仪 ze
  • 界达电位OTSUKA大冢量子点评系统
    界达电位OTSUKA大冢量子点评系统界达电位OTSUKA大冢量子点评系统 激光粒径分析仪 激光粒度仪 激光粒径仪 激光散射粒度分布仪 固体表面zeta电位 固体zeta电位 优良分子量测量 分子直径测量 分子量测量 粒度仪 粒径仪 粒度分析仪 粒度测定仪 zeta电位仪 zeta电位测试 zeta电位测量仪 zeta电位测试仪 纳米粒径分析仪 zeta电位测定仪 nanoSAQL 纳米粒度仪 ze
  • 界达电位OTSUKA大冢量子点评系统
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  • OTSUKA大冢-量子点评系统
    OTSUKA大冢-量子点评系统 量子点材料具有根据粒子直径不同发光波长发生变化的特性。 在本系统中，在评价粒子直径以及分散稳定性的同时，也可以对荧光特性进行评价。 OTSUKA大冢-量子点评系统OTSUKA大冢-量子点评系统OTSUKA大冢-量子点评系统
  • 日本大冢低相位差高速检查设备
    日本大冢低相位差高速检查设备RE-200 日本大冢低相位差高速检查设备RE-200 日本大冢低相位差高速检查设备RE-200
  • OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备
    OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备RETS series OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备RETS series OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备RETS series
  • 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备
    日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100
  • 单元间隙检测装置RETS系列Otsuka
    支持从反射/透射型 LCD 填充单元到带滤色器的空单元的各种单元
  • 彩色滤光片光谱特性测量仪LCF系列Otsuka
    非常适合FPD生产过程中的所有检测，如滤色片光学特性检测和玻璃基板膜厚检测。
  • 非接触式光学深度计 Emios Otsuka大冢
    “一步操作”是一种追求用户友好性的设备，无需任何繁重的工作，设置样品即可立即看到结果。 该设备旨在缩短检测过程，无需校准曲线即可高精度、高分辨率地轻松找到优良厚度。 由于使用了大冢电子开创的光学方法，因此可以在不接触的情况下高精度测量不透明、粗糙表面和容易变形的样品，同时节省空间。
  • 超快光谱干涉式测厚仪Otsuka大冢
    它以非接触方式测量晶片等的研磨和抛光过程，具有超高速、实时和高精度的晶片和树脂。
  • 光谱椭偏仪 FE-5000 / 5000S Otsuka大冢
    除了可实现高精度薄膜分析的光谱椭偏仪外，我们还通过实施自动可变测量机制支持所有类型的薄膜。除了传统的旋转光子检测器方法外，还通过为延迟板提供自动安装/拆卸机制来提高测量精度。
  • 嵌入式膜厚监控器Otsuk大冢苏州售
    实现具有波长依赖性的高精度多层膜测量
  • 膜厚监测仪 FE-300 Otsuka大冢苏州售
    它是一种紧凑、低成本的薄膜厚度计，它通过简单的操作实现了高精度光学干涉测量的薄膜厚度测量。 我们采用一体式外壳，将必要的设备安装在主体中，实现了稳定的数据采集。 通过以低廉的价格获得**反射率，可以分析光学常数。
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