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  • 苏州代理日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM
    OPTM 是一种通过使用显微光谱法测量微小区域的优良反射率，实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的设备。 各种薄膜、晶片、光学材料和多层薄膜等涂膜的厚度可以非破坏性和非接触方式测量。测量时间为1秒/点的高速测量是可能的。它还配备了软件，即使是初学者也可以轻松分析光学常数。
  • 苏州代理光纤动态光散射光度计 FDLS-3000
    使用固态激光器和高灵敏度检测器（冷却光电子双管），可以测量0.5纳米至5000纳米颗粒的粒度和粒度分布（粒度和粒度分布）。
  • OTSUKA大塚电子动态光散射光度计 DLS-6500series
    粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）可以使用动态光散射法测量。
  • 苏州OTSUKA大冢电子动态光散射光度计 DLS-8000
    可以使用动态光散射法测量粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）和使用静态光散射法测量优良分子量/惯性半径/秒维里系数。
  • OTSUKA大冢电子 高灵敏度差示折光仪 DRM-3000
    通过注射器方法可以很容易地进行样品注入。 数据处理很容易，因为控制和数据采集是从个人计算机执行的。 可以进行低噪音、高稳定性和良好再现性的测量。 通过静态光散射法测定重均分子量的 Dn / dc 测量 表面活性剂等胶束临界浓度（cmc）的测定 聚合物吸附量的测定 聚合物共聚物的成分分析 脂质体相变温度的测定等
  • OTSUKA大冢电子 nanoSAQLA带自动进样器 AS50
    nanoSAQLA的特点 1台轻松连续测定5个样品 实现了没有自动进样器难以实现的多个样品的连续测定 也可以通过改变每个样品的条件进行测量。 对应从精益到富的系统 标准测量时间为1分钟的高速测量 自动调整*佳测量位置，从浓缩样品到稀释样品，实现约1分钟的高速测量。 配备简易测量功能（一键即可开始测量） 软件简单易懂，无需任何复杂操作 内置非浸入式电池块，不分液 无污染 因为每个电池都是独立的，所以无需担心污染。 配备温度梯度功能 温度可轻松设置 ■ AS50的特点 连续测量多达 50 个样品 即使在测量过程中也可以添加样品 简单方便的样品组（一次*多可更换 50 个样品） 兼容有机溶剂（玻璃一次性电池） 样品容量至少 0.4 ml 测量范围（理论值） 粒径0.6nm～10μm 浓度范围 0.00001-40% 温度范围0-90°C *
  • OTSUKA多检体纳米粒径量测系统 nanoSAQLA
    一台5检体轻松连续量测 一键测定简易功能 对应低浓度到高浓度 标准测定时间一分高速测定 非浸入式、非分注式连续量测 搭载温度梯度(0 ~ 90℃) 对应多国语言操作介面(繁体中文、日文、英文、简体中文、韩文
  • OTSUKA大冢电子Zeta电位测量仪ELSZ-2000S
    *新的高灵敏度APD实现了更高的灵敏度和更短的测量时间 通过自动温度梯度测量可以进行退化/相变温度分析 可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量 增加了广泛的分子量测量和分析功能 支持悬浮高浓度样品的粒度测量 非常适合在界面化学、无机物、半导体、高分子、生物、制药、医药等领域中，不仅涉及微粒子，而且还涉及薄膜、平板等表面科学的基础研究和应用研究。
  • OTSUKA大冢电子Zeta电位测量仪ELSZ-2000Z
    *新的高灵敏度APD实现了更高的灵敏度和更短的测量时间 通过自动温度梯度测量可以进行退化/相变温度分析 可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量 支持悬浮高浓度样品的 zeta 电位测量 测量电池中的电渗流，并通过绘图分析提供高度准确的 zeta 电位测量结果。 支持高盐浓度溶液的zeta电位测量 支持小面积样品的平板zeta电位测量 非常适合在界面化学、无机物、半导体、高分子、生物、制药、医药等领域中，不仅涉及微粒子，而且还涉及薄膜、平板等表面科学的基础研究和应用研究。
  • OTSUKA大塚电子 粒径量测仪ELSZ-2000ZS
    特殊长度 *新的高灵敏度APD实现了更高的灵敏度和更短的测量时间 通过自动温度梯度测量可以进行退化/相变温度分析 可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量 增加了广泛的分子量测量和分析功能 支持悬浮高浓度样品的粒径和 zeta 电位测量 测量电池中的电渗流，并通过绘图分析提供高度准确的 zeta 电位测量结果。 支持高盐浓度溶液的zeta电位测量 支持小面积样品的平板zeta电位测量 采用 非常适合在界面化学、无机物、半导体、高分子、生物、制药、医药等领域中，不仅涉及微粒子，而且还涉及薄膜、平板等表面科学的基础研究和应用研究。 新型功能材料领域 燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功能薄膜、催化剂、纳米金属）生物纳米 相关（纳米胶囊、树枝状大分子、DDS、生物纳米颗粒）、纳米气泡等。 陶瓷/着色材料 工业领域 陶瓷（二氧化硅/氧化铝/氧化钛等） 表面改
  • OTSUKA大冢电子zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    特殊长度 可以在从稀溶液到浓溶液 (~ 40%) * 1的宽浓度范围内测量粒度和 zeta 电位。 多角度测量能够以高分辨率测量粒度分布 高盐浓度下可测量平板样品的Zeta电位 可以使用静态光散射法测量粒子浓度 可通过动态光散射法进行微流变测量 可以通过测量凝胶样品的多个点来评估凝胶的网络结构和不均匀性。 使用标准流通池可以连续测量粒径和 zeta 电位。 可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量。 通过温度梯度功能可以对蛋白质等进行变性/相变温度分析 测量电池中的电渗流，并通过绘图分析提供高度准确的 zeta 电位测量结果。 可安装荧光截止滤光片（可选） 采用 它是表面化学、无机物质、生命科学、半导体、聚合物、生物学、药学和医学领域中涉及表面科学的基础研究和应用研究的理想选择。 新型功能材料领域 燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、纤维素纳米
  • 嵌入式膜厚仪FE-5000
    在高精度薄膜分析的光谱椭偏仪之上，增加安装了测量角度可自动变化装置,可对应所有种类的薄膜。在传统旋转分析仪法之上，通过安装相位差板自动分离装置，提高了测量精度。
  • 高速配光测量系统GP-7
    它是一种单独评估光源或光学材料光分布的设备。 实现10分钟的测量时间，颠覆分布测量常识！ 仅一次测量可捕获每个空间照度！ 支持其他公司的光学设计软件处理的数据格式！ 设备尺寸紧凑， 1.5平方米角落即可收纳！ 也可输出通用IES格式的配光数据！ 从光源的光分布测量到透镜和薄膜等材料的光学特性，拥有广泛的测量评估范围。
  • 相位差膜・光学材料检查设备　RETS-100
    对应范围广，从反射型・透过型type的已封入液晶的cell到带有彩色滤光片的空cell都可对应
  • 高灵敏度NIR量子效率测量系统QE-5000
    可以检测到单重态氧（活性氧） 　
  • 单粒子荧光诊断系统
    基于与NIMS共同开发的单颗粒诊断方法*的测量是可能的。 * 与国立材料科学研究所，弘前直人研究员和武田隆史研究员共同研究
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