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  • 量子效率测量系统QE-2000 / 2100
    可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）。与粉末，溶液，固体（薄膜）和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外线区域中的杂散光。另外，通过采用集成的半球单元，可以实现明亮的光学系统，并且通过利用此优势的再激发荧光校正，可以执行高精度的测量。此外，QE-2100能够测量量子效率的温度依赖性，并支持从紫外到近红外的宽波长范围。 　
  • 线扫描膜厚仪[离线型]
    该设备可以轻松地离线检查面内膜厚不均，以进行膜的研发和质量控制的抽样检查。 可以高速且高精度地测量整个表面。
  • 彩色滤光片光谱特性测量装置
    它是FPD生产过程中所有检查的理想选择，例如滤色片光学性能检查和玻璃基板薄膜厚度检查。
  • 参考测量仪RETS-100nx
    它是一种相位差测量设备，可支持所有类型的膜，例如OLED偏振片，层压相位差膜和带IPS液晶相位差膜的偏振片。 实现与超高Re.60000 nm兼容的高速，高精度测量。 可以“非破坏性地不剥离”地测定膜的层叠状态。 此外，它配备了简单的软件和校正功能，可支持由于样品重新定位而导致的未对准，从而实现了简单而高度**的测量。
  • 单元间隙检查装置RETS系列
    支持从反射/透射型LCD填充电池到带有彩色滤光片的空电池等各种电池
  • 紫外线分光光度测量系统
    “紫外光谱辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区域中的辐照度。 ・从分光光度计测量可高精度地测量照度・ 从紫外线到可见光的测量波长范围宽 ・可选择适合于高斜入射特性等应用的照度头·可 用于生物系统评估中不可缺少的PFD测量 它是一种即使在紫外线区域也可以实现高精度测量的设备。
  • 紫外分光光度计
    评估紫外线区域中光源的辐射度。 ・ 通过分光辐射度测量可以高精度地测量亮度・支持紫外，可见光和红外的宽波长测量范围・可以进行光生物学 **性评估 它是可以测量紫外线亮度的受限设备。
  • 紫外光谱光分布测量系统
    评估UV LED的光分布特性。 ・根据辐射强度/辐照度评估光分布 ・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度 可视化**和树脂固化光源的不均匀辐射。
  • 紫外线光谱总辐射通量测量系统
    评估UV LED的辐射通量。 ・高性能紫外线LED的输出评估・ 结合温度控制单元的温度评估 支持 UV-LED的 光学特性评估，该技术有望进行**，纯化和树脂固化。
  • 兼容装载口的膜厚测量系统GS-300
    它是一种具有图案匹配功能且XY定位精度为2um或更小的系统。
  • 高速相位差测量仪RE-200
    高精度控制光轴！3σ≤0.02°用于 低延迟测量
  • 线扫描膜厚仪[在线型]
    它是一种可以在薄膜生产现场在线测量薄膜厚度的装置。 通过将原来的光谱干涉法与*新开发的高精度膜厚计算处理技术相结合，可以以至少测量间隔至少测量500 mm宽度的膜的膜厚（使用一个单元时）。 0.01秒
  • 总光通量测量系统HM / FM系列
    它可以测量从LED到照明的各种光源的总光通量。 ・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围 ·通过控制光源的加热/冷却可以评估温度特性 ·系统可以共同控制DC / AC电源。麻烦的操作所需的 测量精度是高集成度的半球，样本集易于 测量的瓦特级大功率激光源相应的 测量系统从多年的经验可以对应任何场景的总光通量测量，满足了需求。
  • 光谱分布测量系统GP系列
    一种测量照明设备的配光特性的设备。 ・使用内部开发的分光镜可以实现高精度的测量！ -可以与配光数据一起测量颜色！- 即使在光谱测量中，也可以实现相当于照度计的高速测量！ ・根据配光测量结果可以进行照明率分析！!! -符合标准的测量系统！ ・也可以由测量基准部门提供技术支持！ 该设备可处理从室内照明到泛光灯的各种照明设备，并满足多种用途的需求。
  • 超快光谱干涉型测厚仪
    它以超高速，实时，高精度的晶片和树脂非接触方式测量晶片等的研磨和抛光过程。
  • 光谱椭偏仪FE-5000 / 5000S
    除了可以进行高精度薄膜分析的椭圆偏振光谱仪之外，我们还通过实现自动可变测量机制来支持所有类型的薄膜。除了常规的旋转光子检测器方法之外，通过为延迟板提供自动连接/分离机制，还提高了测量精度。 　
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