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  • 它是一种紧凑且价格低廉的膜厚计,可通过高精度光学干涉仪以简单的操作实现膜厚测量。 我们采用了一体式的机壳,在主机中容纳了必要的设备,从而实现了稳定的数据采集。 通过以低价获得优良反射率可以分析光学常数。  
  • 多功能多通道光谱检测器,支持紫外线至近红外区域。光谱光谱至少可以在5毫秒内测量。标准光纤无需指定样品类型即可支持各种测量系统。除了显微光谱,光源发射,透射/反射测量之外,还可以通过与软件结合来支持对象颜色评估,膜厚测量等。
  • OTSUKA大冢高灵敏度光谱辐射仪HS-1000
  • 多通道光谱仪MCPD系列,用于膜厚测量
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