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  • 支持从反射/透射型 LCD 封闭单元到带彩色滤光片的空单元的各种单元
  • 支持OLED用偏光板、层叠型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各种薄膜的相位差测量装置。 实现与超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度测量。 可以“无剥离”和“无损”测量薄膜的层压状态。 此外,它配备了简单的软件和校正功能,支持由于样品重新定位而导致的错位,从而实现简单且高精度的测量。
  • 它是一种可以在在线薄膜生产现场测量薄膜厚度的设备。 通过将开创的光谱干涉仪与新开发的高精度膜厚计算处理技术相结合,可以以 0.01 秒的测量间隔以*短的。
  • 在晶圆等的研磨和抛光过程中,晶圆和树脂的厚度以超高速和高精度非接触式测量。
  • 除了可以进行高精度薄膜分析的光谱椭偏仪外,我们还通过实现测量角度的自动可变机构来支持所有类型的薄膜。除了传统的旋转式光子检测器方法外,还通过提供相位差板的自动装卸机构提高了测量精度。
  • 它是一种紧凑且价格低廉的薄膜厚度计,通过高精度光学干涉法实现薄膜厚度测量,操作简单。 我们采用一体式外壳,将必要的设备容纳在主体中,实现稳定的数据采集。 可以通过以低廉的价格获得优良反射率来分析光学常数。
  • OPTM 是一种通过使用显微光谱法测量微小区域的优良反射率,实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的设备。 各种薄膜、晶片、光学材料和多层薄膜等涂膜的厚度可以非破坏性和非接触方式测量。测量时间为1秒/点的高速测量是可能的。它还配备了软件,即使是初学者也可以轻松分析光学常数。
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苏公网安备 32050502000409号