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  • 塔玛萨崎Otsuka大塚光谱仪
    多功能多通道光谱探测器，支持从紫外到近红外区域。 光谱测量可在 5 毫秒内进行。 标准仪器的光纤支持各种测量系统，无需识别样品类型。 除了显微分光、光源发射、透射和反射测量外，它还与软件相结合，支持物体颜色评估和薄膜厚度测量。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚厚度计
    在晶圆等研磨和抛光过程中，我们以超高速和高精度测量晶圆和树脂的厚度。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚光谱仪
    除了能够进行高精度薄膜分析的光谱椭圆测量外，我们还通过安装测量角度的自动可变机制，支持各种薄膜。 除了传统的旋转分析仪方法外，还通过设置缓速板的自动解吸机制，提高了测量精度。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚测量仪器
    我们的 MCPD 系列内联薄膜评估系统采用光学类型，可在非接触式和无损条件下检测薄膜厚度、浓度和颜色。 可测量薄膜厚度范围为 65nm 至 92μm，从薄膜到厚膜。 （折射率为1.5时） 测量原理为分光干涉方式，在实现高测量再现性的同时，还支持多层厚度测量。 由于采用专有算法可实现高速实时监控，因此我们提出了*适合在线胶片监视器的系统。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚膜厚仪
    我们的 MCPD 系列采用柔性光纤，可集成到从原位到内联的各种位置和应用。 由于测量原理采用光谱干涉系统，因此在实现高测量可重复性的同时，还支持多层厚度测量。 采用专有算法，可实现高速实时监控。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚
    OPTM（Optim）是一种利用显微分光在微区域进行**反射率测量，可实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的装置。 涂层膜的厚度和多层膜（如各种薄膜、晶圆和光学材料）可以无损或非接触式测量。 测量时间可以高速测量 1 秒/点。 此外，它配备了一个软件，即使是初学者可以很容易地分析光学常数。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚光度计
    固体激光器和高灵敏度探测器（冷却光电倍增管）可用于测量 0.5nm 至 5000nm 颗粒的颗粒大小分布（颗粒大小和颗粒大小分布）。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚光度计
    使用静态光散射法测量**分子量、惯性半径和**维系数是可能的。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚光度计
    使用动态光散射法测量颗粒大小和颗粒大小分布（颗粒大小和颗粒大小分布），并使用静态光散射方法测量**分子量、惯性半径和**维真实系数。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚分析仪器
    特点 ■纳米SAQLA的特点 一台仪器可轻松连续测量 5 个样本，无需自动采样器即可实现 多个样本的连续测量，也可以通过改变每个样本的条件进行测量。 支持从稀释到厚系统 标准测量时间 1 分钟的高速测量 自动调整从厚系统到稀薄样品的*佳测量位置，实现约 1 分钟的高速测量 简单易懂的测量功能（只需单击一下即可 开始测量），无需复杂的操作 内置非浸没式细胞块，无分包的无孔， 每个细胞都是独立的，因此无需担心不成问题。 配备 温度梯度功能，可轻松设置温度 ■AS50的特点 连续测量多达 50 个样本 即使在测量过程中也能添加样品 样品集简单方便（*多可批量更换 50 个样品） 有机溶剂兼容（玻璃一次性电池） 样品容量 *小 0.4ml
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚电位仪
    该装置可用于用稀释溶液到浓缩溶液测量Zeta电位。 测量电渗透流，使用*小容量为 130μL 的一次性电池进行测量，可实现高精度 Zeta 电位测量。 此外，在0~90°C的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的改性和相变温度分析。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚泽塔电位仪
    除了使用传统稀释溶液和浓缩溶液测量Zeta电位和颗粒直径外，该装置还能够测量分子量。 对应于颗粒大小测量范围（0.6nm 至 10μm）和浓度范围（0.00001% 至 40%）。 测量电渗透流，使用*小容量为 130μL 的一次性电池进行测量，可实现高精度 Zeta 电位测量。 此外，在0~90°C的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的改性和相变温度分析。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚泽塔电位仪
    [通过光散射评估物理性能在 ELSZneo 中进入一个新的阶段] 除了在 ELSZseries 的**型号上用稀释溶液到浓缩溶液测量 Zeta 电位和颗粒直径外，该装置还允许分子量测量。 作为一项新功能，我们采用了多角度测量，以提高颗粒大小分布的分离能力。 此外，还可以进行颗粒浓度测量、微流变测量和凝胶网络结构分析。 新开发的 Zeta 电位平板电池单元采用新开发的高盐浓度涂层，可在高盐浓度环境中（如盐水）进行测量。 我们还推出了超微量电池单元，可在 3μL 下测量颗粒大小，为生命科学领域扩展了可能性。
  • tokisangyo东机产业BII型粘度计
    自1953年销售以来，无论是在科研领域、生产现场，还是在品质管理等各类需要测定粘度的场所，B-II型粘度计都是客户的爱用机型，也是粘度计的代表机型。 特点 ◆ 拥有从低粘度至高粘度的宽广测定量程 ◆ 接触液体部分的材料是SUS304/303型不锈钢 ◆ 适合测定非牛顿型液体的流动特征 ◆ 辉煌的销售业绩蓄积了丰富的专业知识和经验
  • OTSUKA大塚电子 zeta 电位仪
    除了常规的 zeta 电位和粒度测量外，它是一种可以测量分子量的设备，可通过稀溶液至浓溶液进行测量。 支持粒度测量范围（0.6 nm 至 10 μm）和浓度范围（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量为 130 μL 或更大的一次性样品池进行测量，通过实际测量电渗流来实现高精度的 zeta 电位测量。 此外，通过在0～90°C的宽温度范围内进行自动温度梯度测量，可以进行变性/相变温度分析。
  • OPTM-A3_OPTM显微分光膜厚仪_Otsuka大塚
    头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度**反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外） 区域传感器的**机制 易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Ots
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