Otsuka大冢|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度**反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）区域传感器的**机制 OPTM显微分光膜厚仪 OPTM显微分光膜厚仪_Otsuka大塚_OPTM-A2OPTM显微分光膜厚仪_Otsuka大塚_OPTM-A2
OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚

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ZETA电位_Otsuka大塚分子粒径量测系统ELSZ-2000

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ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒径量测系统

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ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒径量测系统

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ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000分子粒径量测系统

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Otsuka大塚|大冢高灵敏度示差折光仪DRM-3000

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Otsuka大塚内置膜厚监测仪

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Otsuka大塚膜厚计FE-300薄膜类型

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Otsuka大塚膜厚计FE-300标准型

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Otsuka大塚膜厚计FE-300

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OPTM显微分光膜厚仪OPTM-A3Otsuka大塚

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OPTM显微分光膜厚仪OPTM-A2Otsuka大塚

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OPTM显微分光膜厚仪OPTM-A1Otsuka大塚

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晶圆在线测厚系统GS-300Otsuka大塚

晶圆在线测厚系统GS-300Otsuka大塚晶圆在线测厚系统GS-300Otsuka大塚晶圆在线测厚系统GS-300Otsuka大塚
SF-3分光干渉式晶圆膜厚仪Otsuka大塚

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