产品中心
产品展示
  • 代理Otsuka大塚电子OPTM测厚仪
    代理Otsuka大塚电子OPTM测厚仪 覆层膜厚仪 层测厚仪 厚度测量 非接触式厚度测量仪
  • 代理Otsuka大塚电子FE-5000嵌入式膜厚仪
    代理Otsuka大塚电子FE-5000嵌入式膜厚仪 椭圆偏振光测量仪 多功能椭偏仪 椭偏仪系统
  • 代理Otsuka大塚电子椭圆偏振光测量仪FE-300
    代理Otsuka大塚电子椭圆偏振光测量仪FE-300 多功能椭偏仪 椭偏仪系统 椭圆偏振光测量仪
  • 代理日本Otsuka大塚电子Si晶圆测试仪SF-3
    代理日本Otsuka大塚电子Si晶圆测试仪SF-3 SiC测试仪 SiC膜厚仪 晶圆检测设备 薄化晶圆
  • 代理 Otsuka大塚多通道光纤光谱仪MCPD-6800
    代理 Otsuka大塚多通道光纤光谱仪MCPD-6800 MCPD-9800 涂层测厚 在线测色仪膜厚在线测试阵列光谱仪在线分光测色仪 光谱分析系统
  • 代理 Otsuka大塚多通道光纤光谱仪MCPD-9800
    代理 Otsuka大塚多通道光纤光谱仪MCPD-9800 MCPD6800 在线测厚 光纤光谱仪 荧光光谱测试 光通量测试 单色仪
  • 江苏地区代理Otsuka大塚VR测试仪RE-200
    Otsuka大塚VR测试仪RE-200 偏光片RTH AR测试仪 大塚电子RETS
  • 代理AR测试仪Otsuka大塚RETS-100nx
    代理AR测试仪Otsuka大塚RETS-100nx VR测试仪 Re测试 相位延迟测试仪 大塚电子RETS
  • Otsuka大塚电子线扫描膜厚度计离线型
    Otsuka大塚电子线扫描膜厚度计离线型 该设备可离线轻松进行表面厚度不均匀性检测，用于薄膜等的研发和质量控制的抽查。 整个表面可以快速、高精度地测量。
  • Otsuka大塚电子在线膜厚测量厚度计
    Otsuka大塚电子在线膜厚测量厚度计塔玛萨崎电子代理销售 该装置可以测量薄膜的整个宽度和总长度，用于在线薄膜生产现场。 通过将新开发的高精度薄膜厚度计算技术与专有光谱干涉方法相结合，可以在每 0.01 秒的测量间隔内测量 500mm 宽度（使用一台）的薄膜厚度。
  • 代理大塚电子单元间隙检查装置 RETS series
    江苏代理Otsuka大塚单元间隙检查装置 RETS series 支持从反射型和透射型液晶封装单元到带滤色器的空单元的各种应用
  • Otsuka大塚电子 RETS延迟测量设备
    Otsuka大塚电子 RETS延迟测量设备 它是一种延迟测量设备，适用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、层压缓速膜和带 IPS 液晶缓速膜的偏振板。 实现超高Re.60000nm的高速、高精度测量。 薄膜的层压状态可以通过“无剥离、无损”进行测量。 此外，它还配备了简单的软件和校正功能，通过重新放置样品来纠正偏差，从而轻松实现高精度测量。
  • 代理Otsuka大塚电子光纤光谱仪
    塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理Otsuka大塚电子光纤光谱仪MCPD-9800/MCPD-6800
  • 江苏代理大塚电子 OPTM-A1膜厚计
    塔玛萨崎电子（苏州）有限公司江苏代理大塚电子 OPTM-A1膜厚计 OPTM（Optim）是一种利用显微分光在微区域进行**反射率测量，可实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的装置。 涂层膜的厚度和多层膜（如各种薄膜、晶圆和光学材料）可以无损或非接触式测量。 测量时间可以高速测量 1 秒/点。 此外，它配备了一个软件，即使是初学者可以很容易地分析光学常数。
  • OTSUKA大塚电子高灵敏度光谱辐射计HS-1000
    塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理销售OTSUKA大塚电子高灵敏度光谱辐射计HS-1000
  • 塔玛萨崎代理Otsuka大塚多通道光谱仪 MCPD-6800
    塔玛萨崎代理Otsuka大塚多通道光谱仪 MCPD-6800 MCPD-6800 是光谱测量和分析的基本系统。 即时测量光谱，自由组装测量光学系统和多种选项，可根据各种目的进行系统升级。 测量波长范围有四种类型可供选择。
  • 塔玛萨崎电子代理Otsuka大塚多通道光谱仪 MCPD-9800
    多功能多通道光谱探测器，支持从紫外到近红外区域。 光谱测量可在 5 毫秒内进行。 标准仪器的光纤支持各种测量系统，无需识别样品类型。 除了显微分光、光源发射、透射和反射测量外，它还与软件相结合，支持物体颜色评估和薄膜厚度测量。
  • 江苏代理Otsuka大塚 电子多通道光谱仪RETS-100nx
    它是一种延迟测量设备，适用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、层压缓速膜和带 IPS 液晶缓速膜的偏振板。 实现超高Re.60000nm的高速、高精度测量。 薄膜的层压状态可以通过“无剥离、无损”进行测量。 此外，它还配备了简单的软件和校正功能，通过重新放置样品来纠正偏差，从而轻松实现高精度测量。
  • 代理Otsuka大塚静态光散射光度计 SLS-6500HL
    特点 使用静态光散射法测量优良分子量、惯性半径和第 二维系数是可能的。 可以对 Zimm 绘图、伯利图、Zimm 平方根图、单浓度图和 Debye 图进行各种分析。 系统将询问您如何安排您的会议。 可选的杆单元支架可实现光纤材料（散装）的优良散射强度测量。
  • 代理Otsuka大塚动态光散射光度计 DLS-6500series
    使用动态光散射方法测量颗粒大小和颗粒大小分布（颗粒大小和颗粒大小分布）是可能的。 您可以选择 He-Ne 激光、固态激光和双激光规格。 相关计高达 4096ch，可实现多模式分析，如聚合物浓缩溶液。 与可选的凝胶旋转单元结合使用时，可以分析凝胶状态。
  • 苏州代理Otsuka大塚动态光散射光度计 DLS-8000series
    特点 使用动态光散射法测量颗粒大小和颗粒大小分布（颗粒大小和颗粒大小分布），并使用静态光散射方法测量优良分子量、惯性半径和第 二维真实系数。 您可以选择 He-Ne 激光、固态激光和双激光规格。 采用浸入式细胞光学系统，可以高精度地测量微弱散射的纳米级粒子。 相关计高达 4096ch，可实现多模式分析，如聚合物浓缩溶液。 与可选的凝胶旋转单元结合使用时，可以分析凝胶状态。
  • 代理Otsuka大塚小角激光散射仪PP-1000
    散射角度为0.33~45°的测量*短为10msec※可以测量 评估亚微米至数百微米的结构 使用专用电池测量溶液样品 在软式 Hv 散射和 Vv 散射测量中轻松切换 桌面类型，可安装在实验室中 ※不使用HDR功能时
  • 苏州代理Otsuka大塚纳米SAQLA
    一台仪器可轻松连续测量 5 个样本，无需自动采样器即可实现 多个样本的连续测量，也可以通过改变每个样本的条件进行测量。 支持从稀释到厚系统 标准测量时间 1 分钟的高速测量 自动调整从厚系统到稀薄样品的*佳测量位置，实现约 1 分钟的高速测量 简单易懂的测量功能（只需单击一下即可 开始测量），无需复杂的操作 内置非浸没式细胞块，无分包的无孔， 每个细胞都是独立的，因此无需担心不成问题。 配备 温度梯度功能，可轻松设置温度
  • Otsuka大塚多样品纳米颗粒直径测量系SAQLA
    ■纳米SAQLA的特点 一台仪器可轻松连续测量 5 个样本，无需自动采样器即可实现 多个样本的连续测量，也可以通过改变每个样本的条件进行测量。 支持从稀释到厚系统 标准测量时间 1 分钟的高速测量 自动调整从厚系统到稀薄样品的*佳测量位置，实现约 1 分钟的高速测量 简单易懂的测量功能（只需单击一下即可 开始测量），无需复杂的操作 内置非浸没式细胞块，无分包的无孔， 每个细胞都是独立的，因此无需担心不成问题。 配备 温度梯度功能，可轻松设置温度
  • 代理Otsuka大塚颗粒尺寸分子量测量 ELSZ-2000S
    特点 *新的高灵敏度 APD 可提高灵敏度并缩短测量时间 通过自动温度梯度测量进行变性/相变温度分析 可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量 增加了广泛的分子量测量和分析功能 支持悬浮高浓度样品的颗粒尺寸测量
  • 苏州代理Otsuka大塚泽塔电位测量系统 ELSZ-2000Z
    特点 *新的高灵敏度 APD 可提高灵敏度并缩短测量时间 通过自动温度梯度测量进行变性/相变温度分析 可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量 支持悬浮高浓度样品的Zeta电位测量 通过测量和绘图分析，提供高精度的 Zeta 电位测量结果，用于测量单元中的电渗透流 支持高盐浓度溶液的Zeta电位测量 支持小面积样品的平板Zeta电位测量
  • 苏州塔玛萨崎代理Otsuka大塚泽塔电位ELSZ-2000ZS
    特点 *新的高灵敏度 APD 可提高灵敏度并缩短测量时间 通过自动温度梯度测量进行变性/相变温度分析 可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量 增加了广泛的分子量测量和分析功能 支持悬浮高浓度样品的颗粒直径和Zeta电位测量 通过测量和绘图分析，提供高精度的 Zeta 电位测量结果，用于测量单元中的电渗透流 支持高盐浓度溶液的Zeta电位测量 支持小面积样品的平板Zeta电位测量
  • 代理Otsuka大塚泽塔电位ELSZneo
    从稀释到浓缩的溶液（~40%）*1可在广泛的浓度范围内测量颗粒大小和 Zeta 电位 多角度测量可实现高分离粒径分布的测量 可在高盐浓度下测量平板样品的Zeta电位 使用静态光散射法测量颗粒浓度 动态光散射法可实现微流变测量 通过多点测量凝胶样品，可以评估凝胶的网状结构和异质性 标准流单元可连续测量颗粒大小和 Zeta 电位 可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量 温度梯度功能允许蛋白质的变性和相变温度分析 通过测量和绘图分析，提供高精度的 Zeta 电位测量结果，用于测量单元中的电渗透流 可安装荧光切割过滤器（可选）
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚分析仪器
    使用单个设备分析不同的成分，如阳离子和阴离子。 微量样品可实现短时间、高分辨率的分析。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚光谱辐射计
    评估光源在紫外区域的辐射强度。 • 通过光谱辐射测量高精度测量 亮度 ，支持 紫外、可见、红外和广泛的测量波长范围，可实现光生物学**评估 这是一个有限的设备，可以测量紫外线的亮度。
  • 塔玛萨崎光谱仪
    评估紫外 LED 的辐射束。 • 高性能紫外 LED 的输出评估 与温度控制单元结合使用时，温度评估 支持紫外线 LED 的光学特性评估，预计这些特性是**、净化和树脂固化。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚测量仪器
    基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法进行测量。* • 与国家材料科学研究所 研究员高崎正彦和武田高富史合作
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚光谱仪
    多功能多通道光谱探测器，支持从紫外到近红外区域。 光谱测量可在 5 毫秒内进行。 标准仪器的光纤支持各种测量系统，无需识别样品类型。 除了显微分光、光源发射、透射和反射测量外，它还与软件相结合，支持物体颜色评估和薄膜厚度测量。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚厚度计
    在晶圆等研磨和抛光过程中，我们以超高速和高精度测量晶圆和树脂的厚度。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚光谱仪
    除了能够进行高精度薄膜分析的光谱椭圆测量外，我们还通过安装测量角度的自动可变机制，支持各种薄膜。 除了传统的旋转分析仪方法外，还通过设置缓速板的自动解吸机制，提高了测量精度。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚测量仪器
    我们的 MCPD 系列内联薄膜评估系统采用光学类型，可在非接触式和无损条件下检测薄膜厚度、浓度和颜色。 可测量薄膜厚度范围为 65nm 至 92μm，从薄膜到厚膜。 （折射率为1.5时） 测量原理为分光干涉方式，在实现高测量再现性的同时，还支持多层厚度测量。 由于采用专有算法可实现高速实时监控，因此我们提出了*适合在线胶片监视器的系统。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚膜厚仪
    我们的 MCPD 系列采用柔性光纤，可集成到从原位到内联的各种位置和应用。 由于测量原理采用光谱干涉系统，因此在实现高测量可重复性的同时，还支持多层厚度测量。 采用专有算法，可实现高速实时监控。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚
    OPTM（Optim）是一种利用显微分光在微区域进行**反射率测量，可实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的装置。 涂层膜的厚度和多层膜（如各种薄膜、晶圆和光学材料）可以无损或非接触式测量。 测量时间可以高速测量 1 秒/点。 此外，它配备了一个软件，即使是初学者可以很容易地分析光学常数。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚光度计
    固体激光器和高灵敏度探测器（冷却光电倍增管）可用于测量 0.5nm 至 5000nm 颗粒的颗粒大小分布（颗粒大小和颗粒大小分布）。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚光度计
    使用静态光散射法测量**分子量、惯性半径和**维系数是可能的。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚光度计
    使用动态光散射法测量颗粒大小和颗粒大小分布（颗粒大小和颗粒大小分布），并使用静态光散射方法测量**分子量、惯性半径和**维真实系数。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚分析仪器
    特点 ■纳米SAQLA的特点 一台仪器可轻松连续测量 5 个样本，无需自动采样器即可实现 多个样本的连续测量，也可以通过改变每个样本的条件进行测量。 支持从稀释到厚系统 标准测量时间 1 分钟的高速测量 自动调整从厚系统到稀薄样品的*佳测量位置，实现约 1 分钟的高速测量 简单易懂的测量功能（只需单击一下即可 开始测量），无需复杂的操作 内置非浸没式细胞块，无分包的无孔， 每个细胞都是独立的，因此无需担心不成问题。 配备 温度梯度功能，可轻松设置温度 ■AS50的特点 连续测量多达 50 个样本 即使在测量过程中也能添加样品 样品集简单方便（*多可批量更换 50 个样品） 有机溶剂兼容（玻璃一次性电池） 样品容量 *小 0.4ml
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚电位仪
    该装置可用于用稀释溶液到浓缩溶液测量Zeta电位。 测量电渗透流，使用*小容量为 130μL 的一次性电池进行测量，可实现高精度 Zeta 电位测量。 此外，在0~90°C的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的改性和相变温度分析。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚泽塔电位仪
    除了使用传统稀释溶液和浓缩溶液测量Zeta电位和颗粒直径外，该装置还能够测量分子量。 对应于颗粒大小测量范围（0.6nm 至 10μm）和浓度范围（0.00001% 至 40%）。 测量电渗透流，使用*小容量为 130μL 的一次性电池进行测量，可实现高精度 Zeta 电位测量。 此外，在0~90°C的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的改性和相变温度分析。
  • 塔玛萨崎Otsuka大塚泽塔电位仪
    [通过光散射评估物理性能在 ELSZneo 中进入一个新的阶段] 除了在 ELSZseries 的**型号上用稀释溶液到浓缩溶液测量 Zeta 电位和颗粒直径外，该装置还允许分子量测量。 作为一项新功能，我们采用了多角度测量，以提高颗粒大小分布的分离能力。 此外，还可以进行颗粒浓度测量、微流变测量和凝胶网络结构分析。 新开发的 Zeta 电位平板电池单元采用新开发的高盐浓度涂层，可在高盐浓度环境中（如盐水）进行测量。 我们还推出了超微量电池单元，可在 3μL 下测量颗粒大小，为生命科学领域扩展了可能性。
  • tokisangyo东机产业BII型粘度计
    自1953年销售以来，无论是在科研领域、生产现场，还是在品质管理等各类需要测定粘度的场所，B-II型粘度计都是客户的爱用机型，也是粘度计的代表机型。 特点 ◆ 拥有从低粘度至高粘度的宽广测定量程 ◆ 接触液体部分的材料是SUS304/303型不锈钢 ◆ 适合测定非牛顿型液体的流动特征 ◆ 辉煌的销售业绩蓄积了丰富的专业知识和经验
  • OTSUKA大塚电子 zeta 电位仪
    除了常规的 zeta 电位和粒度测量外，它是一种可以测量分子量的设备，可通过稀溶液至浓溶液进行测量。 支持粒度测量范围（0.6 nm 至 10 μm）和浓度范围（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量为 130 μL 或更大的一次性样品池进行测量，通过实际测量电渗流来实现高精度的 zeta 电位测量。 此外，通过在0～90°C的宽温度范围内进行自动温度梯度测量，可以进行变性/相变温度分析。
  • OPTM-A3_OPTM显微分光膜厚仪_Otsuka大塚
    头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度**反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外） 区域传感器的**机制 易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Ots
  • OPTM显微分光膜厚仪_Otsuka大塚_OPTM-A2
    头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度**反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外） 区域传感器的**机制 OPTM显微分光膜厚仪 OPTM显微分光膜厚仪_Otsuka大塚_OPTM-A2OPTM显微分光膜厚仪_Otsuka大塚_OPTM-A2
  • OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚
    头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度**反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外） 区域传感器的**机制 易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚
  • ZETA电位_Otsuka大塚分子粒径量测系统ELSZ-2000
    ZETA电位_Otsuka大塚分子粒径量测系统ELSZ-2000 ELSZ-2000 ELSZ-2000ZETA电位_Otsuka大塚分子粒径量测系统ELSZ-2000 此设备可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位･粒径及分子量。 粒径测量范围（0.6nm～10μm），浓度范围（0.00001%～40%）。实测电气渗透流，高精度的ZETA电位测量，*小容量是130μL～的一次性cell。 另，在0～90℃的大的温度范围内，测量自动温度的梯度空间，分析変性・相转移温度
  • ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒径量测系统
    ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒径量测系统ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒径量测系统ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒径量测系统 此设备可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位･粒径及分子量。 粒径测量范围（0.6nm～10μm），浓度范围（0.00001%～40%）。实测电气渗透流，高精度的ZETA电位测量，*小容量是130μL～的一次性cell
  • ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒径量测系统
    ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒径量测系统ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒径量测系统ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒径量测系统 此设备可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位･粒径及分子量。 粒径测量范围（0.6nm～10μm），浓度范围（0.00001%～40%）。实测电气渗透流，高精度的ZETA电位测量，*小容量是130μL～的一次性cell
  • ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000分子粒径量测系统
    ZETA电位_Otsuka大塚分子粒径量测系统ELSZ-2000 ELSZ-2000 ELSZ-2000ZETA电位_Otsuka大塚分子粒径量测系统ELSZ-2000 此设备可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位･粒径及分子量。 粒径测量范围（0.6nm～10μm），浓度范围（0.00001%～40%）。实测电气渗透流，高精度的ZETA电位测量，*小容量是130μL～的一次性cell
  • Otsuka大塚|大冢高灵敏度示差折光仪DRM-3000
    Otsuka大塚|大冢高灵敏度示差折光仪DRM-3000Otsuka大塚|大冢高灵敏度示差折光仪DRM-3000Otsuka大塚|大冢高灵敏度示差折光仪DRM-3000
  • Otsuka大塚内置膜厚监测仪
    Otsuka大塚内置膜厚监测仪Otsuka大塚内置膜厚监测仪Otsuka大塚内置膜厚监测仪
  • Otsuka大塚膜厚计FE-300薄膜类型
    Otsuka大塚膜厚计FE-300薄膜类型Otsuka大塚膜厚计FE-300薄膜类型Otsuka大塚膜厚计FE-300薄膜类型
  • Otsuka大塚膜厚计FE-300标准型
    Otsuka大塚膜厚计FE-300标准型Otsuka大塚膜厚计FE-300标准型Otsuka大塚膜厚计FE-300标准型
  • Otsuka大塚膜厚计FE-300
    Otsuka大塚膜厚计FE-300Otsuka大塚膜厚计FE-300Otsuka大塚膜厚计FE-300
  • OPTM显微分光膜厚仪OPTM-A3Otsuka大塚
    头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度**反射率（多层OPTM显微分光膜厚仪OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外） 区域传感器的**机制 易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Ots
    • 上一页12下一页
    上一页下一页

苏公网安备 32050502000409号