产品中心
热门品牌展示
产品展示
  • OTSUKA大冢-嵌入式膜厚监视器
    OTSUKA大冢-嵌入式膜厚监视器 OTSUKA大冢-嵌入式膜厚监视器 高精度地实现具有波长依存性的多层膜测量！
  • OTSUKA大冢-膜厚測定用多频道分光器MCPD series
    MCPD series OTSUKA大冢-膜厚測定用多频道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多频道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多频道分光器MCPD series
  • OTSUKA大冢-膜厚监视器FE-300
    FE-300 OTSUKA大冢-膜厚监视器 是一种通过简单操作实现高精度光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。 采用将必要的机器收纳在机身部位的一体化体型外壳，实现了稳定的数据的获取 通过获取低价位的优良反射率，也可以进行光学常数的分析。OTSUKA大冢-膜厚监视器FE-300OTSUKA大冢-膜厚监视器FE-300
  • OTSUKA大冢-反射性的分钟光膜厚计FE-3000
    FE-3000 OTSUKA大冢-反射性的分钟光膜厚计 利用显微的微小领域的优良反射率的取得，通过高精度的光干涉法的膜厚解析可能的装置。 多种多样的样品的膜厚·光，除了半导体领域的图案样品、透镜和钻孔之类的形状样品之外，还有表面粗糙度和膜厚不均的样品。能够进行定数分析。OTSUKA大冢-反射性的分钟光膜厚计FE-3000OTSUKA大冢-反射性的分钟光膜厚计FE-3000
  • OTSUKA大冢- 显微分光膜厚计
    OPTM series OTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM seriesOTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM seriesOTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM series
  • OTSUKA大冢- 高灵敏度分光放射輝度計HS-1000
    HS-1000 OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射輝度計 从低亮度到高亮度可以高速·高精度的测量的分光辐射亮度计。 使用电子冷却型的线性阵列传感器，通过大冢电子独自的分光光学设计和信号处理电路的宽亮度范围和波长域，实现了低噪声的高精度的测量。OTSUKA大冢- 高灵敏度分光放射輝度計HS-1000OTSUKA大冢- 高灵敏度分光放射輝度計HS-1000OTSUKA大冢- 高灵敏度分光放射輝度
  • OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800
    MCPD-9800/6800 OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800
  • OTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000S
    ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000S
  • OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100
    Agilent 7100 OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统 阳离子和阴离子等不同的成分可以用一台装置进行分析。 用微量样品可以进行短时间、高分辨率的分析。 OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100
  • OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000
    DRM-3000 OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计 可以根据静光散射法的重量平均分子量决定的dn / dc测量。 OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000
  • OTSUKA大冢- 静态光散射光度计SLS-6500HL
    SLS-6500HL OTSUKA大冢- 静态光散射光度计 可以测量使用静光散射法的**分子量、惯性半径、**胆量系数。 OTSUKA大冢- 静态光散射光度计SLS-6500HLOTSUKA大冢- 静态光散射光度计SLS-6500HLOTSUKA大冢- 静态光散射光度计SLS-6500HL
  • OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000AS
    FPAR-1000AS OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径 FPAR和自动取景器的组合中，关于50检体的试料，可以进行粒子直径的自动测量。 样品量为1ml，可以使用廉价的电筒进行测量。 OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-100
  • OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000
    FPAR-1000 OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统 从稀薄系到浓厚系，在广泛的浓度区域中的粒子直径测量 *适合分析胶体分散液和拉拉力的分散状态。 OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000
  • OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000
    FDLS-3000 OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计 根据固体激光和高灵敏度检测器（冷却型光电子倍增管），可以测量0.5nm～5000 nm的粒子直径和粒子直径分布（粒径·粒径分布）。OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000
  • OTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-6500series
    DLS-6500series OTSUKA大冢- 动态光散射光度计 可测量使用动态光散射法的粒子直径、粒子直径分布（粒径、粒径分布）。 OTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-6500series
  • OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S
    ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S
    • 上一页1...161718192021下一页
    上一页下一页

苏公网安备 32050502000409号