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多功能多通道光谱检测器，支持紫外线至近红外区域。光谱光谱至少可以在5毫秒内测量。标准光纤无需指定样品类型即可支持各种测量系统。除了显微光谱，光源发射，透射/反射测量之外，还可以通过与软件结合来支持对象颜色评估，膜厚测量等。
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Otsuka大塚|大冢高灵敏度示差折光仪DRM-3000Otsuka大塚|大冢高灵敏度示差折光仪DRM-3000Otsuka大塚|大冢高灵敏度示差折光仪DRM-3000
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头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度**反射率（多层OPTM显微分光膜厚仪OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外） 区域传感器的**机制 易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Ots
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ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒径量测系统ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒径量测系统ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒径量测系统 此设备可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位･粒径及分子量。 粒径测量范围（0.6nm～10μm），浓度范围（0.00001%～40%）。实测电气渗透流，高精度的ZETA电位测量，*小容量是130μL～的一次性cell
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ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒径量测系统ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒径量测系统ZETA电位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒径量测系统 此设备可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位･粒径及分子量。 粒径测量范围（0.6nm～10μm），浓度范围（0.00001%～40%）。实测电气渗透流，高精度的ZETA电位测量，*小容量是130μL～的一次性cell
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ZETA电位_Otsuka大塚分子粒径量测系统ELSZ-2000 ELSZ-2000 ELSZ-2000ZETA电位_Otsuka大塚分子粒径量测系统ELSZ-2000 此设备可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位･粒径及分子量。 粒径测量范围（0.6nm～10μm），浓度范围（0.00001%～40%）。实测电气渗透流，高精度的ZETA电位测量，*小容量是130μL～的一次性cell
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ZETA电位_Otsuka大塚分子粒径量测系统ELSZ-2000 ELSZ-2000 ELSZ-2000ZETA电位_Otsuka大塚分子粒径量测系统ELSZ-2000 此设备可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位･粒径及分子量。 粒径测量范围（0.6nm～10μm），浓度范围（0.00001%～40%）。实测电气渗透流，高精度的ZETA电位测量，*小容量是130μL～的一次性cell。 另，在0～90℃的大的温度范围内，测量自动温度的梯度空间，分析変性・相转移温度
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头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度**反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外） 区域传感器的**机制 易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析 独立测量头对应各种inline客制化需求 支持各种自定义 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM显微分光膜厚仪_OPTM-A1_Ots
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彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES
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OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备RETS series OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备RETS series OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备RETS series
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日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100
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日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400
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界达电位OTSUKA大冢量子点评系统界达电位OTSUKA大冢量子点评系统 激光粒径分析仪 激光粒度仪 激光粒径仪 激光散射粒度分布仪 固体表面zeta电位 固体zeta电位 优良分子量测量 分子直径测量 分子量测量 粒度仪 粒径仪 粒度分析仪 粒度测定仪 zeta电位仪 zeta电位测试 zeta电位测量仪 zeta电位测试仪 纳米粒径分析仪 zeta电位测定仪 nanoSAQL 纳米粒度仪 ze
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日本大冢显微分光OPTM SERIES膜厚仪OPTM-A3 日本大冢显微分光OPTM SERIES膜厚仪OPTM-A3 日本大冢显微分光OPTM SERIES膜厚仪OPTM-A3
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日本大冢OPTM SERIES显微分光膜厚仪OPTM-A1 日本大冢OPTM SERIES显微分光膜厚仪OPTM-A1 日本大冢OPTM SERIES显微分光膜厚仪OPTM-A1
