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  • 代理AR测试仪Otsuka大塚RETS-100nx
    代理AR测试仪Otsuka大塚RETS-100nx VR测试仪 Re测试 相位延迟测试仪 大塚电子RETS
  • Otsuka大塚电子线扫描膜厚度计离线型
    Otsuka大塚电子线扫描膜厚度计离线型 该设备可离线轻松进行表面厚度不均匀性检测，用于薄膜等的研发和质量控制的抽查。 整个表面可以快速、高精度地测量。
  • Otsuka大塚电子在线膜厚测量厚度计
    Otsuka大塚电子在线膜厚测量厚度计塔玛萨崎电子代理销售 该装置可以测量薄膜的整个宽度和总长度，用于在线薄膜生产现场。 通过将新开发的高精度薄膜厚度计算技术与专有光谱干涉方法相结合，可以在每 0.01 秒的测量间隔内测量 500mm 宽度（使用一台）的薄膜厚度。
  • 代理大塚电子单元间隙检查装置 RETS series
    江苏代理Otsuka大塚单元间隙检查装置 RETS series 支持从反射型和透射型液晶封装单元到带滤色器的空单元的各种应用
  • Otsuka大塚电子 RETS延迟测量设备
    Otsuka大塚电子 RETS延迟测量设备 它是一种延迟测量设备，适用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、层压缓速膜和带 IPS 液晶缓速膜的偏振板。 实现超高Re.60000nm的高速、高精度测量。 薄膜的层压状态可以通过“无剥离、无损”进行测量。 此外，它还配备了简单的软件和校正功能，通过重新放置样品来纠正偏差，从而轻松实现高精度测量。
  • 代理Otsuka大塚电子光纤光谱仪
    塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理Otsuka大塚电子光纤光谱仪MCPD-9800/MCPD-6800
  • 江苏代理大塚电子 OPTM-A1膜厚计
    塔玛萨崎电子（苏州）有限公司江苏代理大塚电子 OPTM-A1膜厚计 OPTM（Optim）是一种利用显微分光在微区域进行**反射率测量，可实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的装置。 涂层膜的厚度和多层膜（如各种薄膜、晶圆和光学材料）可以无损或非接触式测量。 测量时间可以高速测量 1 秒/点。 此外，它配备了一个软件，即使是初学者可以很容易地分析光学常数。
  • OTSUKA大塚电子高灵敏度光谱辐射计HS-1000
    塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理销售OTSUKA大塚电子高灵敏度光谱辐射计HS-1000
  • 塔玛萨崎代理Otsuka大塚多通道光谱仪 MCPD-6800
    塔玛萨崎代理Otsuka大塚多通道光谱仪 MCPD-6800 MCPD-6800 是光谱测量和分析的基本系统。 即时测量光谱，自由组装测量光学系统和多种选项，可根据各种目的进行系统升级。 测量波长范围有四种类型可供选择。
  • 塔玛萨崎电子代理Otsuka大塚多通道光谱仪 MCPD-9800
    多功能多通道光谱探测器，支持从紫外到近红外区域。 光谱测量可在 5 毫秒内进行。 标准仪器的光纤支持各种测量系统，无需识别样品类型。 除了显微分光、光源发射、透射和反射测量外，它还与软件相结合，支持物体颜色评估和薄膜厚度测量。
  • 江苏代理Otsuka大塚 电子多通道光谱仪RETS-100nx
    它是一种延迟测量设备，适用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、层压缓速膜和带 IPS 液晶缓速膜的偏振板。 实现超高Re.60000nm的高速、高精度测量。 薄膜的层压状态可以通过“无剥离、无损”进行测量。 此外，它还配备了简单的软件和校正功能，通过重新放置样品来纠正偏差，从而轻松实现高精度测量。
  • 代理Otsuka大塚静态光散射光度计 SLS-6500HL
    特点 使用静态光散射法测量优良分子量、惯性半径和第 二维系数是可能的。 可以对 Zimm 绘图、伯利图、Zimm 平方根图、单浓度图和 Debye 图进行各种分析。 系统将询问您如何安排您的会议。 可选的杆单元支架可实现光纤材料（散装）的优良散射强度测量。
  • 代理Otsuka大塚动态光散射光度计 DLS-6500series
    使用动态光散射方法测量颗粒大小和颗粒大小分布（颗粒大小和颗粒大小分布）是可能的。 您可以选择 He-Ne 激光、固态激光和双激光规格。 相关计高达 4096ch，可实现多模式分析，如聚合物浓缩溶液。 与可选的凝胶旋转单元结合使用时，可以分析凝胶状态。
  • 苏州代理Otsuka大塚动态光散射光度计 DLS-8000series
    特点 使用动态光散射法测量颗粒大小和颗粒大小分布（颗粒大小和颗粒大小分布），并使用静态光散射方法测量优良分子量、惯性半径和第 二维真实系数。 您可以选择 He-Ne 激光、固态激光和双激光规格。 采用浸入式细胞光学系统，可以高精度地测量微弱散射的纳米级粒子。 相关计高达 4096ch，可实现多模式分析，如聚合物浓缩溶液。 与可选的凝胶旋转单元结合使用时，可以分析凝胶状态。
  • 代理Otsuka大塚小角激光散射仪PP-1000
    散射角度为0.33~45°的测量*短为10msec※可以测量 评估亚微米至数百微米的结构 使用专用电池测量溶液样品 在软式 Hv 散射和 Vv 散射测量中轻松切换 桌面类型，可安装在实验室中 ※不使用HDR功能时
  • 苏州代理Otsuka大塚纳米SAQLA
    一台仪器可轻松连续测量 5 个样本，无需自动采样器即可实现 多个样本的连续测量，也可以通过改变每个样本的条件进行测量。 支持从稀释到厚系统 标准测量时间 1 分钟的高速测量 自动调整从厚系统到稀薄样品的*佳测量位置，实现约 1 分钟的高速测量 简单易懂的测量功能（只需单击一下即可 开始测量），无需复杂的操作 内置非浸没式细胞块，无分包的无孔， 每个细胞都是独立的，因此无需担心不成问题。 配备 温度梯度功能，可轻松设置温度
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