产品中心
热门品牌展示
产品展示
  • 膜厚测量系统 FE-3700 / 5700 Otsuka大冢
    评估和分析不断发展的 FPD 制造过程中的各种薄膜
  • LCD评估装置（面板/模块检查） LCD系列 Otsuka
    LCD面板模组的电光特性
  • 单元间隙检测装置RETS系列Otsuka
    支持从反射/透射型 LCD 填充单元到带滤色器的空单元的各种单元
  • 彩色滤光片光谱特性测量仪LCF系列Otsuka
    非常适合FPD生产过程中的所有检测，如滤色片光学特性检测和玻璃基板膜厚检测。
  • NIR 量子效率测量系统 QE-5000 Otsuka大冢
    可检测单线态氧（活性氧）
  • 单粒子荧光诊断系统Osuka大冢
    可以基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法* 进行测量。 * 与国立材料科学研究所、弘前直人研究员和武田隆研究员联合研究
  • 量子效率测量系统 QE-2000 / 2100 Otsuka大冢
    可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）。与粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散光。此外，通过采用积分半球单元，可以实现明亮的光学系统，并通过利用这一点重新激发荧光校正，可以进行高精度的测量。此外，QE-2100 能够测量量子效率的温度依赖性，并支持从紫外到近红外的宽波长范围。
  • 高速LED光学特性监视器LE Otsuka
    它是一种可以与生产线的控制信号同步，高速在线评估 LED 光学特性的设备。 LE-5400 提供质量控制所需的光学特性信息，例如 NG 判断和分类。
  • 光谱辐照度测量系统Otsuka大冢
    “光谱辐照度测量系统 IL100”评估光源的照度。 ・从光谱辐照度测量中高精度测量照度 ・ 从紫外线到可见光和红外线的宽测量波长范围・ 可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用 ・光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可 通过专用软件进行测量和照明 电源也是集体控制 这个设备追求到精良的基础照度测量。
  • 紫外光谱仪Otsuka大冢苏州售
    评估光源在紫外线区域的辐射。 ・ 通过光谱辐射度测量高精度测量亮度 ・ 支持紫外线、可见光和红外线的宽测量波长范围 ・ 可以进行光生物 **性评估 它是一种可以测量紫外线亮度的有限设备。
  • 紫外光谱辐照度测量系统Otsuka
    “紫外分光辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区的辐照度。 ・从光谱辐照度测量中高精度测量照度 ・ 从紫外线到可见光的宽测量波长范围 ・可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用 ・可以进行生物系统评估必不可少的PFD测量 它是一种即使在紫外线区域也能实现高精度测量的设备。 产品咨询
  • 紫外分光光度分布测量系统Otsuka
    评估 UV LED 的光分布特性。 ・基于辐射强度/辐照度的光分布评估 ・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度 可视化用于**和树脂固化的光源的不均匀照射。
  • 总辐射通量测量系统Otsuka大冢
    评估 UV LED 的辐射通量。 ・ 性能更高的紫外线 LED 的输出评估 ・ 温度评估与温度控制单元相结合 支持 紫外线 LED 的 光学特性评估，预计将被**、净化和树脂固化。
  • 总光通量测量系统 HM / FM Otsuka大冢
    它测量从 LED 到照明的各种光源的总光通量。 ・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围。 ・可以通过控制光源的加热/冷却来评估温度特性 。繁琐操作要求 测量精度高集成半球，样品组方便 测量大功率激光光源瓦级对应 测量系统对应任何场景总光通量测量多年经验，满足需求支持。
  • 光谱配光测量系统GPOtsuka大冢电子
    一种测量照明设备配光特性的装置。 ・使用内部开发的分光镜实现高精度测量！ -颜色可以与光分布数据一起测量！- 即使在光谱测量中也可实现相当于照度计类型的高速测量！ ・可根据配光测量结果进行照度分析！!! -符合标准测量系统！
  • 装载端口兼容薄膜厚度测量系统 GS-300Otsuka
    它是一个具有模式匹配功能和 2um 或更小的 XY 定位精度的系统。
  • 晶圆测厚仪SF-3Otsuka大冢苏州售
    在晶圆等的研磨研磨工序中，以超高速、高精度无接触地测量晶圆和树脂的厚度。
  • 线扫描测厚仪离线式 Otsuka大冢
    是一种可以方便地离线检测面内膜厚不均匀性的设备，用于膜的研发和质量控制的抽检。 可以高速且高精度地测量整个表面。
  • 线扫描测厚仪在线式 Otsuka大冢
    它是一种可以在薄膜生产现场在线测量薄膜厚度的设备。 通过将开创的光谱干涉技术与新开发的高精度膜厚计算处理技术相结合，可以以至少0.01的测量间隔测量宽度为500mm（使用一台时）的膜厚秒。
  • 非接触式光学深度计 Emios Otsuka大冢
    “一步操作”是一种追求用户友好性的设备，无需任何繁重的工作，设置样品即可立即看到结果。 该设备旨在缩短检测过程，无需校准曲线即可高精度、高分辨率地轻松找到优良厚度。 由于使用了大冢电子开创的光学方法，因此可以在不接触的情况下高精度测量不透明、粗糙表面和容易变形的样品，同时节省空间。
  • 超快光谱干涉式测厚仪Otsuka大冢
    它以非接触方式测量晶片等的研磨和抛光过程，具有超高速、实时和高精度的晶片和树脂。
  • 光谱椭偏仪 FE-5000 / 5000S Otsuka大冢
    除了可实现高精度薄膜分析的光谱椭偏仪外，我们还通过实施自动可变测量机制支持所有类型的薄膜。除了传统的旋转光子检测器方法外，还通过为延迟板提供自动安装/拆卸机制来提高测量精度。
  • 嵌入式膜厚监控器Otsuk大冢苏州售
    实现具有波长依赖性的高精度多层膜测量
  • 膜厚监测仪 FE-300 Otsuka大冢苏州售
    它是一种紧凑、低成本的薄膜厚度计，它通过简单的操作实现了高精度光学干涉测量的薄膜厚度测量。 我们采用一体式外壳，将必要的设备安装在主体中，实现了稳定的数据采集。 通过以低廉的价格获得**反射率，可以分析光学常数。
  • 显微光谱 OPTM Otsuka大冢苏州售
    它是一种通过使用显微光谱测量微小区域内的优良反射率，实现高精度膜厚和光学常数分析的设备。 可以以非破坏性和非接触的方式测量各种薄膜、晶片、光学材料和多层薄膜等镀膜的厚度。可进行1秒/点测量时间的高速测量。它还配备了软件，即使是初学者也可以轻松分析光学常数。
  • 光谱辐射计 HS-1000Otsuka大冢苏州售
    能够从低亮度到高亮度进行高速、高精度测量的光谱辐射亮度计。 大冢电子独特的光谱光学设计和信号处理电路采用电子冷却线阵传感器，实现了在宽亮度范围和波长范围内的低噪声和高精度测量。
  • 多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800Otsuka大冢
    支持紫外到近红外区域的多功能多通道光谱检测器。光谱光谱可以在*少 5 ms 内测量。标准光纤可以在不指定样品类型的情况下支持各种测量系统。除了显微光谱、光源发射、透射/反射测量外，还可以通过结合软件支持物体颜色评估、膜厚测量等。
  • 聚合物相结构分析系统PP-1000Otsuka大冢
    它是一种可以使用小角度光散射方法在原位实时分析聚合物和薄膜结构的设备。与使用 X 射线或中子的设备相比，可以评估更大的结构（微米级）。
  • 毛细管电泳Agilent 7100Otsuka大冢
    可以使用单个设备分析不同的组分，例如阳离子和阴离子。 使用少量样品即可进行短时间、高分辨率的分析。
  • 示差折光仪Otsuka大冢苏州售
    可以通过静态光散射法测量 dn/dc 来确定重均分子量。
  • 静态光散射光度计 SLS-6500HLOtsuka大冢
    优良分子量、惯性半径和**维里系数可以使用静态光散射方法测量。
  • 动态光散射光度计DLS-8000Otsuka大冢
    可以使用动态光散射法和使用静态光散射法测量优良分子量/惯性半径/**维里系数的粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）。
  • 分子量测量系统ELSZneoOtsuka大冢
    ELSZneo通过光散射评估物理特性 　　　　进入新阶段]这是 ELSZ 系列的*高型号，可测量稀溶液至浓溶液中的 zeta 电位和粒径以及分子量。作为一项新功能，我们采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。它还支持粒子浓度测量、微流变学测量和凝胶网络分析。 新型 zeta 电位板单元具有新开发的高盐浓度涂层，可在生理盐水等高盐浓度环境中进行测量。我们还有一系列超痕量细胞单元，可以测量 3 μL 的粒径，扩展了生命科学领域的可能性。
  • Zeta电位分子量测量系统ELSZ-2000ZS大冢Otsuka
    除了常规的zeta电位和粒度测量之外，它是一种可以用稀到浓溶液测量分子量的设备。 支持粒度测量范围（0.6 nm 至 10 μm）和浓度范围（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量为 130 μL 或更大的一次性电池进行测量，通过实际测量电渗流，可以实现高精度的 zeta 电位测量。 此外，通过在 0 至 90°C 的宽温度范围内自动进行温度梯度测量，可以进行变性/相变温度分析。
  • 血细胞去除装置Adamonitor SC大冢电子
    本装置是使用JIMRO株式会社的血细胞去除净化器“Adacolumn”去除血液中的粒细胞和单核细胞，以低流量进行体外血液循环的装置。细胞。 （医疗器械批准文号22800BZX00360000）
  • DiaScan a荧光**层析读数器大冢电子
    超紧凑型**层析读取器，非常适合即时检测 (POCT)。
  • 红外光谱分析仪 POConePlus大冢电子苏州售
    3 C 使用带有医疗设备的呼气收集袋进行测量，该医疗设备用于使用尿素制剂的尿素呼气测试方法的呼气分析。它利用了 碳同位素12 CO 2和13 CO 2之间吸收的差异。 （医疗器械批准文号：23000BZX00214000）
  • 离散临床化学自动分析仪 27B1X00055000008苏州售
    是一种全自动粪便人血红蛋白分析仪，采用金胶体比色法准确测定粪便人血红蛋白。 （医疗器械通报号27B1X00055000008）
  • 嵌入式膜厚仪FE-5000
    在高精度薄膜分析的光谱椭偏仪之上，增加安装了测量角度可自动变化装置,可对应所有种类的薄膜。在传统旋转分析仪法之上，通过安装相位差板自动分离装置，提高了测量精度。
  • 高速配光测量系统GP-7
    它是一种单独评估光源或光学材料光分布的设备。 实现10分钟的测量时间，颠覆分布测量常识！ 仅一次测量可捕获每个空间照度！ 支持其他公司的光学设计软件处理的数据格式！ 设备尺寸紧凑， 1.5平方米角落即可收纳！ 也可输出通用IES格式的配光数据！ 从光源的光分布测量到透镜和薄膜等材料的光学特性，拥有广泛的测量评估范围。
  • 相位差膜・光学材料检查设备　RETS-100
    对应范围广，从反射型・透过型type的已封入液晶的cell到带有彩色滤光片的空cell都可对应
  • 高灵敏度NIR量子效率测量系统QE-5000
    可以检测到单重态氧（活性氧） 　
  • 单粒子荧光诊断系统
    基于与NIMS共同开发的单颗粒诊断方法*的测量是可能的。 * 与国立材料科学研究所，弘前直人研究员和武田隆史研究员共同研究
  • 量子效率测量系统QE-2000 / 2100
    可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）。与粉末，溶液，固体（薄膜）和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外线区域中的杂散光。另外，通过采用集成的半球单元，可以实现明亮的光学系统，并且通过利用此优势的再激发荧光校正，可以执行高精度的测量。此外，QE-2100能够测量量子效率的温度依赖性，并支持从紫外到近红外的宽波长范围。 　
  • 线扫描膜厚仪[离线型]
    该设备可以轻松地离线检查面内膜厚不均，以进行膜的研发和质量控制的抽样检查。 可以高速且高精度地测量整个表面。
  • 彩色滤光片光谱特性测量装置
    它是FPD生产过程中所有检查的理想选择，例如滤色片光学性能检查和玻璃基板薄膜厚度检查。
  • 参考测量仪RETS-100nx
    它是一种相位差测量设备，可支持所有类型的膜，例如OLED偏振片，层压相位差膜和带IPS液晶相位差膜的偏振片。 实现与超高Re.60000 nm兼容的高速，高精度测量。 可以“非破坏性地不剥离”地测定膜的层叠状态。 此外，它配备了简单的软件和校正功能，可支持由于样品重新定位而导致的未对准，从而实现了简单而高度**的测量。
  • 单元间隙检查装置RETS系列
    支持从反射/透射型LCD填充电池到带有彩色滤光片的空电池等各种电池
  • 紫外线分光光度测量系统
    “紫外光谱辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区域中的辐照度。 ・从分光光度计测量可高精度地测量照度・ 从紫外线到可见光的测量波长范围宽 ・可选择适合于高斜入射特性等应用的照度头·可 用于生物系统评估中不可缺少的PFD测量 它是一种即使在紫外线区域也可以实现高精度测量的设备。
  • 紫外分光光度计
    评估紫外线区域中光源的辐射度。 ・ 通过分光辐射度测量可以高精度地测量亮度・支持紫外，可见光和红外的宽波长测量范围・可以进行光生物学 **性评估 它是可以测量紫外线亮度的受限设备。
  • 紫外光谱光分布测量系统
    评估UV LED的光分布特性。 ・根据辐射强度/辐照度评估光分布 ・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度 可视化**和树脂固化光源的不均匀辐射。
  • 紫外线光谱总辐射通量测量系统
    评估UV LED的辐射通量。 ・高性能紫外线LED的输出评估・ 结合温度控制单元的温度评估 支持 UV-LED的 光学特性评估，该技术有望进行**，纯化和树脂固化。
  • 兼容装载口的膜厚测量系统GS-300
    它是一种具有图案匹配功能且XY定位精度为2um或更小的系统。
  • 高速相位差测量仪RE-200
    高精度控制光轴！3σ≤0.02°用于 低延迟测量
  • 线扫描膜厚仪[在线型]
    它是一种可以在薄膜生产现场在线测量薄膜厚度的装置。 通过将原来的光谱干涉法与*新开发的高精度膜厚计算处理技术相结合，可以以至少测量间隔至少测量500 mm宽度的膜的膜厚（使用一个单元时）。 0.01秒
  • 总光通量测量系统HM / FM系列
    它可以测量从LED到照明的各种光源的总光通量。 ・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围 ·通过控制光源的加热/冷却可以评估温度特性 ·系统可以共同控制DC / AC电源。麻烦的操作所需的 测量精度是高集成度的半球，样本集易于 测量的瓦特级大功率激光源相应的 测量系统从多年的经验可以对应任何场景的总光通量测量，满足了需求。
  • 光谱分布测量系统GP系列
    一种测量照明设备的配光特性的设备。 ・使用内部开发的分光镜可以实现高精度的测量！ -可以与配光数据一起测量颜色！- 即使在光谱测量中，也可以实现相当于照度计的高速测量！ ・根据配光测量结果可以进行照明率分析！!! -符合标准的测量系统！ ・也可以由测量基准部门提供技术支持！ 该设备可处理从室内照明到泛光灯的各种照明设备，并满足多种用途的需求。
  • 超快光谱干涉型测厚仪
    它以超高速，实时，高精度的晶片和树脂非接触方式测量晶片等的研磨和抛光过程。
  • 光谱椭偏仪FE-5000 / 5000S
    除了可以进行高精度薄膜分析的椭圆偏振光谱仪之外，我们还通过实现自动可变测量机制来支持所有类型的薄膜。除了常规的旋转光子检测器方法之外，通过为延迟板提供自动连接/分离机制，还提高了测量精度。 　
  • 膜厚计FE-300
    它是一种紧凑且价格低廉的膜厚计，可通过高精度光学干涉仪以简单的操作实现膜厚测量。 我们采用了一体式的机壳，在主机中容纳了必要的设备，从而实现了稳定的数据采集。 通过以低价获得优良反射率可以分析光学常数。 　
    • 上一页123456下一页
    上一页下一页

苏公网安备 32050502000409号