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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理OTSUKA大塚电子半导体SiC测厚仪OPTM-F2，OTSUKA大塚半导体行业Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等检测
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理OTSUKA大塚电子显微分光膜厚仪OPTM-F1，OTSUKA大塚半导体行业Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等检测
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理OTSUKA大塚电子自动XY型OPTM-A2显微分光膜厚仪，OTSUKA大塚半导体行业Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等检测
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理OTSUKA大塚电子自动XY型OPTM-A1显微分光膜厚仪，OTSUKA大塚半导体行业Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等检测
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司江苏代理OTSUKA大塚电子晶圆测厚系统 GS-300实现嵌入晶圆中的布线图案的图案对齐 GS-300满足半导体工艺的高通量需求 GS-300支持凹口对齐功能
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理OTSUKA大塚电子SF-3晶圆非破坏性测厚仪SF-3以超高速实时和高精度测量晶圆和树脂的非接触研磨和抛光过程。SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
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OTSUKA大塚电子椭圆偏振光谱仪代理 FE-5000S塔玛萨崎电子（苏州）有限公司 FE-5000S除了可实现高精度薄膜分析的椭圆偏振光谱外， FE-5000S还可以通过实施自动可变测量角度机制来处理所有类型的薄膜。 除了传统的旋转分析仪方法外，通过安装自动延迟板分离机构提高了测量精度。
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OTSUKA大塚电子椭圆偏振光谱仪代理 FE-5000塔玛萨崎电子（苏州）有限公司 FE-5000除了可实现高精度薄膜分析的椭圆偏振光谱外， FE-5000还可以通过实施自动可变测量角度机制来处理所有类型的薄膜。 除了传统的旋转分析仪方法外，通过安装自动延迟板分离机构提高了测量精度。
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司OTSUKA大塚电子MCPD-6800中国代理多通道光谱仪这是一款多通道多通道光谱仪，适用于紫外到近红外范围。 除了显微光谱、光源发光、透射和反射测量外，它还可以与软件结合使用，以评估物体的颜色和薄膜厚度。
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司OTSUKA大塚电子MCPD-9800中国代理多通道光谱仪这是一款多通道多通道光谱仪，适用于紫外到近红外范围。 除了显微光谱、光源发光、透射和反射测量外，它还可以与软件结合使用，以评估物体的颜色和薄膜厚度。
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司江苏代理OTSUKA大塚 显微分光膜厚仪OPTM SERIES 测量各种薄膜，晶圆，光学材料等涂层薄膜的厚度，以及多层薄膜的厚度，而不会具有破坏性和非接触性。
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta电位，粒径，分子量测量系统 ELSZneo OTSUKA大塚椭圆光谱仪 FE-5000/5000S
