OTSUKA大塚电子|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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代理日本品牌：OTSUKA大塚电子（薄膜测厚仪、相位差膜设备等）、USHIO牛尾点光源、CCS检查光源、Aitec艾泰克、REVOX莱宝克斯、ONOSOKKI小野测器、YAMATO雅马拓、KOSAKA小坂台阶仪、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壶坂电机、NEWKON新光、TOKISANGYO东机产业、tokyokeiso东京计装、leimac雷马克、MIKASA米卡萨匀胶机、COSMO科斯莫、SAKURAI樱井无尘纸、TOE东京光电子、EYE岩崎UV灯管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV爱睦威地震仪、HOKUYO北阳电机、SAKAGUCHI坂口电热、ThreeBond三键胶水等.

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塔玛萨崎Otsuka大塚光度计

使用静态光散射法测量**分子量、惯性半径和**维系数是可能的。
塔玛萨崎Otsuka大塚光度计

使用动态光散射法测量颗粒大小和颗粒大小分布（颗粒大小和颗粒大小分布），并使用静态光散射方法测量**分子量、惯性半径和**维真实系数。
塔玛萨崎Otsuka大塚分析仪器

特点 ■纳米SAQLA的特点一台仪器可轻松连续测量 5 个样本，无需自动采样器即可实现多个样本的连续测量，也可以通过改变每个样本的条件进行测量。支持从稀释到厚系统标准测量时间 1 分钟的高速测量自动调整从厚系统到稀薄样品的*佳测量位置，实现约 1 分钟的高速测量简单易懂的测量功能（只需单击一下即可开始测量），无需复杂的操作内置非浸没式细胞块，无分包的无孔，每个细胞都是独立的，因此无需担心不成问题。配备温度梯度功能，可轻松设置温度 ■AS50的特点连续测量多达 50 个样本即使在测量过程中也能添加样品样品集简单方便（*多可批量更换 50 个样品）有机溶剂兼容（玻璃一次性电池）样品容量 *小 0.4ml
塔玛萨崎Otsuka大塚电位仪

该装置可用于用稀释溶液到浓缩溶液测量Zeta电位。测量电渗透流，使用*小容量为 130μL 的一次性电池进行测量，可实现高精度 Zeta 电位测量。此外，在0~90°C的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的改性和相变温度分析。
塔玛萨崎Otsuka大塚泽塔电位仪

除了使用传统稀释溶液和浓缩溶液测量Zeta电位和颗粒直径外，该装置还能够测量分子量。对应于颗粒大小测量范围（0.6nm 至 10μm）和浓度范围（0.00001% 至 40%）。测量电渗透流，使用*小容量为 130μL 的一次性电池进行测量，可实现高精度 Zeta 电位测量。此外，在0~90°C的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的改性和相变温度分析。
塔玛萨崎Otsuka大塚泽塔电位仪

[通过光散射评估物理性能在 ELSZneo 中进入一个新的阶段] 除了在 ELSZseries 的**型号上用稀释溶液到浓缩溶液测量 Zeta 电位和颗粒直径外，该装置还允许分子量测量。作为一项新功能，我们采用了多角度测量，以提高颗粒大小分布的分离能力。此外，还可以进行颗粒浓度测量、微流变测量和凝胶网络结构分析。新开发的 Zeta 电位平板电池单元采用新开发的高盐浓度涂层，可在高盐浓度环境中（如盐水）进行测量。我们还推出了超微量电池单元，可在 3μL 下测量颗粒大小，为生命科学领域扩展了可能性。
OTSUKA大塚电子 zeta 电位仪

除了常规的 zeta 电位和粒度测量外，它是一种可以测量分子量的设备，可通过稀溶液至浓溶液进行测量。支持粒度测量范围（0.6 nm 至 10 μm）和浓度范围（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量为 130 μL 或更大的一次性样品池进行测量，通过实际测量电渗流来实现高精度的 zeta 电位测量。此外，通过在0～90°C的宽温度范围内进行自动温度梯度测量，可以进行变性/相变温度分析。
Otsuka单元间隙检测装置RETS系列

支持从反射/透射型 LCD 封闭单元到带彩色滤光片的空单元的各种单元
苏州代理OTSUKA激活测量仪 RETS-100nx

支持OLED用偏光板、层叠型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各种薄膜的相位差测量装置。实现与超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度测量。可以“无剥离”和“无损”测量薄膜的层压状态。此外，它配备了简单的软件和校正功能，支持由于样品重新定位而导致的错位，从而实现简单且高精度的测量。
苏州代理OTSUKA 线扫描膜厚仪在线式

它是一种可以在在线薄膜生产现场测量薄膜厚度的设备。通过将开创的光谱干涉仪与新开发的高精度膜厚计算处理技术相结合，可以以 0.01 秒的测量间隔以*短的。
苏州代理OTSUKA光谱干涉晶片测厚仪SF-3

在晶圆等的研磨和抛光过程中，晶圆和树脂的厚度以超高速和高精度非接触式测量。
苏州代理大冢电子光谱椭偏仪 FE-5000 / 5000S

除了可以进行高精度薄膜分析的光谱椭偏仪外，我们还通过实现测量角度的自动可变机构来支持所有类型的薄膜。除了传统的旋转式光子检测器方法外，还通过提供相位差板的自动装卸机构提高了测量精度。
苏州代理大冢电子膜厚监测仪FE-300

它是一种紧凑且价格低廉的薄膜厚度计，通过高精度光学干涉法实现薄膜厚度测量，操作简单。我们采用一体式外壳，将必要的设备容纳在主体中，实现稳定的数据采集。可以通过以低廉的价格获得优良反射率来分析光学常数。
苏州代理日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM

OPTM 是一种通过使用显微光谱法测量微小区域的优良反射率，实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的设备。各种薄膜、晶片、光学材料和多层薄膜等涂膜的厚度可以非破坏性和非接触方式测量。测量时间为1秒/点的高速测量是可能的。它还配备了软件，即使是初学者也可以轻松分析光学常数。
苏州代理光纤动态光散射光度计 FDLS-3000

使用固态激光器和高灵敏度检测器（冷却光电子双管），可以测量0.5纳米至5000纳米颗粒的粒度和粒度分布（粒度和粒度分布）。
OTSUKA大塚电子动态光散射光度计 DLS-6500series

粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）可以使用动态光散射法测量。