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是*适合Point Of Care Testing(POCT)的超小型**层析器。 OTSUKA大冢 医用机器荧光**色谱仪 DiaScanα OTSUKA大冢 医用机器荧光**色谱仪 DiaScanαOTSUKA大冢 医用机器荧光**色谱仪 DiaScanα
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本装置用于利用株式会社JIMRO的血细胞去除用净化器“阿达柱”去除血液中的颗粒球及单核细胞，是为了在低流量进行血液的体外循环的专用血球细胞去除装置. OTSUKA大冢 医用机器血细胞**装置 Adamonitor SC OTSUKA大冢 医用机器血细胞**装置 Adamonitor SCOTSUKA大冢 医用机器血细胞**装置 Adamonitor SC
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GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series1000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series1000
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GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series600OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series600
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GP-7 series 300 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300
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GP-7 series OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series
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FE-3700 OTSUKA大冢-膜厚测量系统 OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700
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MR-2000 OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000
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MPRT-2000 OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000
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HS-1000 OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000
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GC-1 OTSUKA大冢-千兆对比度检测器 实现真正的黑屏！ 把黑色的差异数值化。 OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1
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RETS series OTSUKA大冢-单元间隙检查设备 从反射型·透射型的液晶封入单元到彩色过滤空单元的广泛对应 OTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS series
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LCF series OTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置 OTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF seriesOTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF seriesOTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF series
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OTSUKA大冢-量子点评系统 量子点材料具有根据粒子直径不同发光波长发生变化的特性。 在本系统中，在评价粒子直径以及分散稳定性的同时，也可以对荧光特性进行评价。 OTSUKA大冢-量子点评系统OTSUKA大冢-量子点评系统OTSUKA大冢-量子点评系统
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OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统 荧光体1粒子的荧光特性可以测定的高灵敏度系统。 1从粒子的取出到测量的系统化。 可以测量10μm的粒子。 支持恒温到600°C的温度依赖性测量 OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
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QE-5000 OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统 OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000
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DF-1000 OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统 快速测量透过荧光的面内色度分布 OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000
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QE-2100 OTSUKA大冢-量子效率测量系统 OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100
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QE-2000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000
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LE series OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器 是能够使LED的光学特性评价与生产线的控制信号同步，在线内高速进行的装置。 LE-5400提供NG判定和等级分类等质量管理所必需的光学特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE series
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RH50 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 对应微LED等微小样品的配光测定系统RH50.。 与光学模拟软件的联合是可能的，可以简单地高速取得2π空间全方位的光线。50×50mm尺寸以上请看GP-7 series。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50
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GP series OTSUKA大冢-分光配光测量系统 测量照明设备配光特性的装置。 OTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP series
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GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 1000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 1000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 1000
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GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 600OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 600OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 600
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GP-7 series300 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series300
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GP-7 series OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series
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MCPD-9800 OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器 能够使LED的光学特性评价与生产线的控制信号同步，在线内高速进行的装置。 LE-5400提供NG判定和等级分类等质量管理所必需的光学特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800
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MCPD-6800 OTSUKA大冢-多通道分光器 对应从紫外到近红外领域的多功能多通道分光检测器。*短5ms能够进行分光光谱测定。标准设备光纤可支持多种测量系统，而不必确定样品种类。以显微分光、光源发光、透射·反射测量为首，通过与软件相结合，也能够应对物体颜色评价、膜厚测量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢
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MCPD-9800 OTSUKA大冢-多通道分光器 对应从紫外到近红外领域的多功能多通道分光检测器。*短5ms能够进行分光光谱测定。标准设备光纤可支持多种测量系统，而不必确定样品种类。以显微分光、光源发光、透射·反射测量为首，通过与软件相结合，也能够应对物体颜色评价、膜厚测量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢
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IL100 OTSUKA大冢-照度测量系统 从分光放射照度测定中高精度地测定照度。 ·从紫外到可见、红外的广泛测量波长范围。 ·可以选择高斜入射特性等用途的照度头。 ·光合作用研究不可缺少的PFD、PPFD也可以测定。 ·专用软件点亮电源也统一控制。 OTSUKA大冢-照度测量系统IL100OTSUKA大冢-照度测量系统IL100OTSUKA大冢 是对基本的照度测定进行极限探究的装置
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GP-7 series 1000UV OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UV
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GP-7 series 600UV OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 60OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 600UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 600UV0UV
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GP-7 series 300UV OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统 紫OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UV
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GP-510U OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-510UOTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-510U
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GP-1100 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光测量
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GP-500 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-500
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GP-2000 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量
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FM-9015UV OTSUKA大冢-UV测定装置 OTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UV
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HM/FM series OTSUKA大冢-全光束测量系统 OTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM series，支持符合要求的测定系统。
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GP series OTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP series的装置。
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RH50 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 对应微LED等微小样品的配光测定系统RH50.。 与光学模拟软件的联合是可能的，可以简单地高速取得2π空间全方位的光线。50×50mm尺寸以上请看GP-7 series。OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50
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SF-3Rθ OTSUKA大冢-高速晶圆厚度映射系统 *多可以快速映射12inch晶片OTSUKA大冢-高速晶圆厚度映射系统SF-3RθOTSUKA大冢-高速晶圆厚度映射系统SF-3RθOTSUKA大冢-高速晶圆厚度映射系统SF-3Rθ
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SF-3Rθ OTSUKA大冢-晶片厚度映射系统 搭载模式匹配功能，是X-Y定位精度2um以下的系统。OTSUKA大冢-晶片厚度映射系统SF-3RθOTSUKA大冢-晶片厚度映射系统SF-3RθOTSUKA大冢-晶片厚度映射系统SF-3Rθ
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SF-3AAF OTSUKA大冢-晶片厚度映射系统 搭载模式匹配功能，是X-Y定位精度2um以下的系统。OTSUKA大冢-晶片厚度映射系统SF-3AAFOTSUKA大冢-晶片厚度映射系统SF-3AAFOTSUKA大冢-晶片厚度映射系统SF-3AAF
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SF-3AA OTSUKA大冢-晶片厚度映射系统 搭载模式匹配功能，是X-Y定位精度2um以下的系统。OTSUKA大冢-晶片厚度映射系统SF-3AAOTSUKA大冢-晶片厚度映射系统SF-3AAOTSUKA大冢-晶片厚度映射系统SF-3AA
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GS-300 OTSUKA大冢-负载端口对应膜厚测量系统 搭载模式匹配功能，X-Y定位精度在2um以下的系统。OTSUKA大冢-负载端口对应膜厚测量系统GS-300OTSUKA大冢-负载端口对应膜厚测量系统GS-300OTSUKA大冢-负载端口对应膜厚测量系统GS-300
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SF-3/200 OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计 用非接触的温哈和树脂的超高速实时、高精度的测量。OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/200OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/200OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/200
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SF-3/300 OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计 用非接触的温哈和树脂的超高速实时、高精度的测量。OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/300OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/300OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/300
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SF-3/1300 OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计 用非接触的温哈和树脂的超高速实时、高精度的测量。OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/1300OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/1300OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/1300
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SF-3/BB OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计 用非接触的温哈和树脂的超高速实时、高精度的测量。OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/BBOTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/BBOTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/BB
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AT-1500 OTSUKA大冢-非接触光学厚度计 OTSUKA大冢-非接触光学厚度计AT-1500OTSUKA大冢-非接触光学厚度计AT-1500OTSUKA大冢-非接触光学厚度计AT-1500
