OTSUKA大塚电子|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

搜索

热门搜索：

代理日本品牌：OTSUKA大塚电子（薄膜测厚仪、相位差膜设备等）、USHIO牛尾点光源、CCS检查光源、Aitec艾泰克、REVOX莱宝克斯、ONOSOKKI小野测器、YAMATO雅马拓、KOSAKA小坂台阶仪、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壶坂电机、NEWKON新光、TOKISANGYO东机产业、tokyokeiso东京计装、leimac雷马克、MIKASA米卡萨匀胶机、COSMO科斯莫、SAKURAI樱井无尘纸、TOE东京光电子、EYE岩崎UV灯管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV爱睦威地震仪、HOKUYO北阳电机、SAKAGUCHI坂口电热、ThreeBond三键胶水等.

产品中心

热门品牌展示

产品展示

Otsuka大塚多样品纳米颗粒直径测量系SAQLA

■纳米SAQLA的特点一台仪器可轻松连续测量 5 个样本，无需自动采样器即可实现多个样本的连续测量，也可以通过改变每个样本的条件进行测量。支持从稀释到厚系统标准测量时间 1 分钟的高速测量自动调整从厚系统到稀薄样品的*佳测量位置，实现约 1 分钟的高速测量简单易懂的测量功能（只需单击一下即可开始测量），无需复杂的操作内置非浸没式细胞块，无分包的无孔，每个细胞都是独立的，因此无需担心不成问题。配备温度梯度功能，可轻松设置温度
代理Otsuka大塚颗粒尺寸分子量测量 ELSZ-2000S

特点 *新的高灵敏度 APD 可提高灵敏度并缩短测量时间通过自动温度梯度测量进行变性/相变温度分析可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量增加了广泛的分子量测量和分析功能支持悬浮高浓度样品的颗粒尺寸测量
苏州代理Otsuka大塚泽塔电位测量系统 ELSZ-2000Z

特点 *新的高灵敏度 APD 可提高灵敏度并缩短测量时间通过自动温度梯度测量进行变性/相变温度分析可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量支持悬浮高浓度样品的Zeta电位测量通过测量和绘图分析，提供高精度的 Zeta 电位测量结果，用于测量单元中的电渗透流支持高盐浓度溶液的Zeta电位测量支持小面积样品的平板Zeta电位测量
苏州塔玛萨崎代理Otsuka大塚泽塔电位ELSZ-2000ZS

特点 *新的高灵敏度 APD 可提高灵敏度并缩短测量时间通过自动温度梯度测量进行变性/相变温度分析可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量增加了广泛的分子量测量和分析功能支持悬浮高浓度样品的颗粒直径和Zeta电位测量通过测量和绘图分析，提供高精度的 Zeta 电位测量结果，用于测量单元中的电渗透流支持高盐浓度溶液的Zeta电位测量支持小面积样品的平板Zeta电位测量
代理Otsuka大塚泽塔电位ELSZneo

从稀释到浓缩的溶液（~40%）*1可在广泛的浓度范围内测量颗粒大小和 Zeta 电位多角度测量可实现高分离粒径分布的测量可在高盐浓度下测量平板样品的Zeta电位使用静态光散射法测量颗粒浓度动态光散射法可实现微流变测量通过多点测量凝胶样品，可以评估凝胶的网状结构和异质性标准流单元可连续测量颗粒大小和 Zeta 电位可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量温度梯度功能允许蛋白质的变性和相变温度分析通过测量和绘图分析，提供高精度的 Zeta 电位测量结果，用于测量单元中的电渗透流可安装荧光切割过滤器（可选）
塔玛萨崎Otsuka大塚分析仪器

使用单个设备分析不同的成分，如阳离子和阴离子。微量样品可实现短时间、高分辨率的分析。
塔玛萨崎Otsuka大塚光谱辐射计

评估光源在紫外区域的辐射强度。 • 通过光谱辐射测量高精度测量亮度，支持紫外、可见、红外和广泛的测量波长范围，可实现光生物学**评估这是一个有限的设备，可以测量紫外线的亮度。
塔玛萨崎光谱仪

评估紫外 LED 的辐射束。 • 高性能紫外 LED 的输出评估与温度控制单元结合使用时，温度评估支持紫外线 LED 的光学特性评估，预计这些特性是**、净化和树脂固化。
塔玛萨崎Otsuka大塚测量仪器

基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法进行测量。* • 与国家材料科学研究所研究员高崎正彦和武田高富史合作
塔玛萨崎Otsuka大塚光谱仪

多功能多通道光谱探测器，支持从紫外到近红外区域。光谱测量可在 5 毫秒内进行。标准仪器的光纤支持各种测量系统，无需识别样品类型。除了显微分光、光源发射、透射和反射测量外，它还与软件相结合，支持物体颜色评估和薄膜厚度测量。
塔玛萨崎Otsuka大塚厚度计

在晶圆等研磨和抛光过程中，我们以超高速和高精度测量晶圆和树脂的厚度。
塔玛萨崎Otsuka大塚光谱仪

除了能够进行高精度薄膜分析的光谱椭圆测量外，我们还通过安装测量角度的自动可变机制，支持各种薄膜。除了传统的旋转分析仪方法外，还通过设置缓速板的自动解吸机制，提高了测量精度。
塔玛萨崎Otsuka大塚测量仪器

我们的 MCPD 系列内联薄膜评估系统采用光学类型，可在非接触式和无损条件下检测薄膜厚度、浓度和颜色。可测量薄膜厚度范围为 65nm 至 92μm，从薄膜到厚膜。（折射率为1.5时）测量原理为分光干涉方式，在实现高测量再现性的同时，还支持多层厚度测量。由于采用专有算法可实现高速实时监控，因此我们提出了*适合在线胶片监视器的系统。
塔玛萨崎Otsuka大塚膜厚仪

我们的 MCPD 系列采用柔性光纤，可集成到从原位到内联的各种位置和应用。由于测量原理采用光谱干涉系统，因此在实现高测量可重复性的同时，还支持多层厚度测量。采用专有算法，可实现高速实时监控。
塔玛萨崎Otsuka大塚

OPTM（Optim）是一种利用显微分光在微区域进行**反射率测量，可实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的装置。涂层膜的厚度和多层膜（如各种薄膜、晶圆和光学材料）可以无损或非接触式测量。测量时间可以高速测量 1 秒/点。此外，它配备了一个软件，即使是初学者可以很容易地分析光学常数。
塔玛萨崎Otsuka大塚光度计

固体激光器和高灵敏度探测器（冷却光电倍增管）可用于测量 0.5nm 至 5000nm 颗粒的颗粒大小分布（颗粒大小和颗粒大小分布）。