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产品展示
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FE-5000 OTSUKA大冢-分光器 除了能够高精度的薄膜解析的分光中，通过实现测量角度的自动可变机构，也对应于所有种类的薄膜。除以往的旋转检光子法之外，通过设置相位差版的自动脱穿机构，提高了测定精度。OTSUKA大冢-分光器FE-5000OTSUKA大冢-分光器FE-5000OTSUKA大冢-分光器FE-5000
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MCPD series OTSUKA大冢-膜厚測定用多频道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多频道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多频道分光器MCPD series
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FE-300 OTSUKA大冢-膜厚监视器 是一种通过简单操作实现高精度光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。 采用将必要的机器收纳在机身部位的一体化体型外壳，实现了稳定的数据的获取 通过获取低价位的优良反射率，也可以进行光学常数的分析。OTSUKA大冢-膜厚监视器FE-300OTSUKA大冢-膜厚监视器FE-300
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FE-3000 OTSUKA大冢-反射性的分钟光膜厚计 利用显微的微小领域的优良反射率的取得，通过高精度的光干涉法的膜厚解析可能的装置。 多种多样的样品的膜厚·光，除了半导体领域的图案样品、透镜和钻孔之类的形状样品之外，还有表面粗糙度和膜厚不均的样品。能够进行定数分析。OTSUKA大冢-反射性的分钟光膜厚计FE-3000OTSUKA大冢-反射性的分钟光膜厚计FE-3000
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OPTM series OTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM seriesOTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM seriesOTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM series
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GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series1000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series1000
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GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series600OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series600
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GP-7 series 300 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300
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GP-7 series OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series
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MR-2000 OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000
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MPRT-2000 OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000
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HS-1000 OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000
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GC-1 OTSUKA大冢-千兆对比度检测器 实现真正的黑屏！ 把黑色的差异数值化。 OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1
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RETS series OTSUKA大冢-单元间隙检查设备 从反射型·透射型的液晶封入单元到彩色过滤空单元的广泛对应 OTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS series
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LCF series OTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置 OTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF seriesOTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF seriesOTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF series
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OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统 荧光体1粒子的荧光特性可以测定的高灵敏度系统。 1从粒子的取出到测量的系统化。 可以测量10μm的粒子。 支持恒温到600°C的温度依赖性测量 OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
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QE-5000 OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统 OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000
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DF-1000 OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统 快速测量透过荧光的面内色度分布 OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000
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QE-2100 OTSUKA大冢-量子效率测量系统 OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100
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QE-2000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000
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LE series OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器 是能够使LED的光学特性评价与生产线的控制信号同步，在线内高速进行的装置。 LE-5400提供NG判定和等级分类等质量管理所必需的光学特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE series
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RH50 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 对应微LED等微小样品的配光测定系统RH50.。 与光学模拟软件的联合是可能的，可以简单地高速取得2π空间***的光线。50×50mm尺寸以上请看GP-7 series。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50
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GP series OTSUKA大冢-分光配光测量系统 测量照明设备配光特性的装置。 OTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP series
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GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 1000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 1000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 1000
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GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 600OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 600OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 600
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GP-7 series300 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series300
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GP-7 series OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series
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HM/FM series OTSUKA大冢-全光束测量系统 OTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM series，支持符合要求的测定系统。
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GP series OTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP series的装置。
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MCPD-9800 OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器 能够使LED的光学特性评价与生产线的控制信号同步，在线内高速进行的装置。 LE-5400提供NG判定和等级分类等质量管理所必需的光学特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800
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MCPD-6800 OTSUKA大冢-多通道分光器 对应从紫外到近红外领域的多功能多通道分光检测器。*短5ms能够进行分光光谱测定。标准设备光纤可支持多种测量系统，而不必确定样品种类。以显微分光、光源发光、透射·反射测量为首，通过与软件相结合，也能够应对物体颜色评价、膜厚测量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢
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MCPD-9800 OTSUKA大冢-多通道分光器 对应从紫外到近红外领域的多功能多通道分光检测器。*短5ms能够进行分光光谱测定。标准设备光纤可支持多种测量系统，而不必确定样品种类。以显微分光、光源发光、透射·反射测量为首，通过与软件相结合，也能够应对物体颜色评价、膜厚测量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢
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IL100 OTSUKA大冢-照度测量系统 从分光放射照度测定中高精度地测定照度。 ·从紫外到可见、红外的广泛测量波长范围。 ·可以选择高斜入射特性等用途的照度头。 ·光合作用研究不可缺少的PFD、PPFD也可以测定。 ·专用软件点亮电源也统一控制。 OTSUKA大冢-照度测量系统IL100OTSUKA大冢-照度测量系统IL100OTSUKA大冢 是对基本的照度测定进行极限探究的装置
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GP-7 series 1000UV OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UV
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GP-7 series 600UV OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 60OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 600UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 600UV0UV
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GP-7 series 300UV OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统 紫OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UV
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GP-510U OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-510UOTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-510U
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GP-1100 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光测量
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GP-500 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-500
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GP-2000 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量
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FM-9015UV OTSUKA大冢-UV测定装置 OTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UV
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“光谱辐照度测量系统 IL100”评估光源的照度。 ・从光谱辐照度测量中高精度测量照度 ・ 从紫外线到可见光和红外线的宽测量波长范围・ 可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用 ・光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可 通过专用软件进行测量和照明 电源也是集体控制 这个设备追求到精良的基础照度测量。
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评估光源在紫外线区域的辐射。 ・ 通过光谱辐射度测量高精度测量亮度 ・ 支持紫外线、可见光和红外线的宽测量波长范围 ・ 可以进行光生物 **性评估 它是一种可以测量紫外线亮度的有限设备。
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“紫外分光辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区的辐照度。 ・从光谱辐照度测量中高精度测量照度 ・ 从紫外线到可见光的宽测量波长范围 ・可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用 ・可以进行生物系统评估必不可少的PFD测量 它是一种即使在紫外线区域也能实现高精度测量的设备。 产品咨询
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评估 UV LED 的辐射通量。 ・ 性能更高的紫外线 LED 的输出评估 ・ 温度评估与温度控制单元相结合 支持 紫外线 LED 的 光学特性评估，预计将被**、净化和树脂固化。
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它测量从 LED 到照明的各种光源的总光通量。 ・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围。 ・可以通过控制光源的加热/冷却来评估温度特性 。繁琐操作要求 测量精度高集成半球，样品组方便 测量大功率激光光源瓦级对应 测量系统对应任何场景总光通量测量多年经验，满足需求支持。
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一种测量照明设备配光特性的装置。 ・使用内部开发的分光镜实现高精度测量！ -颜色可以与光分布数据一起测量！- 即使在光谱测量中也可实现相当于照度计类型的高速测量！ ・可根据配光测量结果进行照度分析！!! -符合标准测量系统！
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彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES
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可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）。与粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散光。此外，通过采用积分半球单元，可以实现明亮的光学系统，并通过利用这一点重新激发荧光校正，可以进行高精度的测量。此外，QE-2100 能够测量量子效率的温度依赖性，并支持从紫外到近红外的宽波长范围。
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ELSZneo通过光散射评估物理特性 进入新阶段]这是 ELSZ 系列的*高型号，可测量稀溶液至浓溶液中的 zeta 电位和粒径以及分子量。作为一项新功能，我们采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。它还支持粒子浓度测量、微流变学测量和凝胶网络分析。 新型 zeta 电位板单元具有新开发的高盐浓度涂层，可在生理盐水等高盐浓度环境中进行测量。我们还有一系列超痕量细胞单元，可以测量 3 μL 的粒径，扩展了生命科学领域的可能性。
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除了常规的zeta电位和粒度测量之外，它是一种可以用稀到浓溶液测量分子量的设备。 支持粒度测量范围（0.6 nm 至 10 μm）和浓度范围（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量为 130 μL 或更大的一次性电池进行测量，通过实际测量电渗流，可以实现高精度的 zeta 电位测量。 此外，通过在 0 至 90°C 的宽温度范围内自动进行温度梯度测量，可以进行变性/相变温度分析。
