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  • OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/1300
    　SF-3/1300 OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计 用非接触的温哈和树脂的超高速实时、高精度的测量。OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/1300OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/1300OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/1300
  • OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/BB
    　SF-3/BB OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计 用非接触的温哈和树脂的超高速实时、高精度的测量。OTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/BBOTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/BBOTSUKA大冢-超高速分光干扰式厚度计SF-3/BB
  • OTSUKA大冢-非接触光学厚度计AT-1500
    　AT-1500 OTSUKA大冢-非接触光学厚度计 OTSUKA大冢-非接触光学厚度计AT-1500OTSUKA大冢-非接触光学厚度计AT-1500OTSUKA大冢-非接触光学厚度计AT-1500
  • OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计
    OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计
  • OTSUKA大冢-非接触光学厚度计AT-5000
    　AT-5000 OTSUKA大冢-非接触光学厚度计 OTSUKA大冢-非接触光学厚度计AT-5000OTSUKA大冢-非接触光学厚度计AT-5000OTSUKA大冢-非接触光学厚度计AT-5000
  • OTSUKA大冢-线扫描膜厚计
    OTSUKA大冢-线扫描膜厚计 在线薄膜生产现场能够对薄膜的膜厚进行全幅、全长测量的装置。 通过在独自的分光干涉法中组合新开发的高精度膜厚演算处理技术，以每*短0.01秒的测定间隔，可以进行500mm宽(1台使用时)的薄膜的膜厚测定。OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计
  • OTSUKA大冢-分光器FE-5000S
    　FE-5000S OTSUKA大冢-分光器 除了能够高精度的薄膜解析的分光中，通过实现测量角度的自动可变机构，也对应于所有种类的薄膜。除以往的旋转检光子法之外，通过设置相位差版的自动脱穿机构，提高了测定精度。OTSUKA大冢-分光器FE-5000SOTSUKA大冢-分光器FE-5000SOTSUKA大冢-分光器FE-5000S
  • OTSUKA大冢-分光器FE-5000
    　FE-5000 OTSUKA大冢-分光器 除了能够高精度的薄膜解析的分光中，通过实现测量角度的自动可变机构，也对应于所有种类的薄膜。除以往的旋转检光子法之外，通过设置相位差版的自动脱穿机构，提高了测定精度。OTSUKA大冢-分光器FE-5000OTSUKA大冢-分光器FE-5000OTSUKA大冢-分光器FE-5000
  • OTSUKA大冢-嵌入式膜厚监视器
    OTSUKA大冢-嵌入式膜厚监视器 OTSUKA大冢-嵌入式膜厚监视器 高精度地实现具有波长依存性的多层膜测量！
  • OTSUKA大冢-膜厚測定用多频道分光器MCPD series
    MCPD series OTSUKA大冢-膜厚測定用多频道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多频道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多频道分光器MCPD series
  • OTSUKA大冢-膜厚监视器FE-300
    FE-300 OTSUKA大冢-膜厚监视器 是一种通过简单操作实现高精度光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。 采用将必要的机器收纳在机身部位的一体化体型外壳，实现了稳定的数据的获取 通过获取低价位的优良反射率，也可以进行光学常数的分析。OTSUKA大冢-膜厚监视器FE-300OTSUKA大冢-膜厚监视器FE-300
  • OTSUKA大冢-反射性的分钟光膜厚计FE-3000
    FE-3000 OTSUKA大冢-反射性的分钟光膜厚计 利用显微的微小领域的优良反射率的取得，通过高精度的光干涉法的膜厚解析可能的装置。 多种多样的样品的膜厚·光，除了半导体领域的图案样品、透镜和钻孔之类的形状样品之外，还有表面粗糙度和膜厚不均的样品。能够进行定数分析。OTSUKA大冢-反射性的分钟光膜厚计FE-3000OTSUKA大冢-反射性的分钟光膜厚计FE-3000
  • OTSUKA大冢- 显微分光膜厚计
    OPTM series OTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM seriesOTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM seriesOTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM series
  • OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series1000
    GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series1000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series1000
  • OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series600
    GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series600OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series600
  • OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300
    GP-7 series 300 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300
  • OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series
    GP-7 series OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series
  • OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000
    MR-2000 OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000
  • OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000
    MPRT-2000 OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000
  • OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000
    HS-1000 OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000
  • OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1
    GC-1 OTSUKA大冢-千兆对比度检测器 实现真正的黑屏！ 把黑色的差异数值化。 OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1
  • OTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS series
    RETS series OTSUKA大冢-单元间隙检查设备 从反射型·透射型的液晶封入单元到彩色过滤空单元的广泛对应 OTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS series
  • OTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF series
    LCF series OTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置 OTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF seriesOTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF seriesOTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF series
  • OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
    OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统 荧光体1粒子的荧光特性可以测定的高灵敏度系统。 1从粒子的取出到测量的系统化。 可以测量10μm的粒子。 支持恒温到600°C的温度依赖性测量 OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
  • OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000
    QE-5000 OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统 OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000
  • OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000
    DF-1000 OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统 快速测量透过荧光的面内色度分布 OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000
  • OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100
    QE-2100 OTSUKA大冢-量子效率测量系统 OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100
  • OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000
    　QE-2000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000
  • OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE series
    LE series OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器 是能够使LED的光学特性评价与生产线的控制信号同步，在线内高速进行的装置。 LE-5400提供NG判定和等级分类等质量管理所必需的光学特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE series
  • OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50
    RH50 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 对应微LED等微小样品的配光测定系统RH50.。 与光学模拟软件的联合是可能的，可以简单地高速取得2π空间全方位的光线。50×50mm尺寸以上请看GP-7 series。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50
  • OTSUKA大冢-分光配光测量系统GP series
    GP series OTSUKA大冢-分光配光测量系统 测量照明设备配光特性的装置。 OTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP series
  • OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 1000
    GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 1000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 1000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 1000
  • OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 600
    GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 600OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 600OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 600
  • OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series300
    GP-7 series300 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series300
  • OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series
    GP-7 series OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series
  • OTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM series
    HM/FM series OTSUKA大冢-全光束测量系统 OTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM series，支持符合要求的测定系统。
  • OTSUKA大冢-分光配光测量系统GP series
    GP series OTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP series的装置。
  • OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800
    MCPD-9800 OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器 能够使LED的光学特性评价与生产线的控制信号同步，在线内高速进行的装置。 LE-5400提供NG判定和等级分类等质量管理所必需的光学特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800
  • OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800
    MCPD-6800 OTSUKA大冢-多通道分光器 对应从紫外到近红外领域的多功能多通道分光检测器。*短5ms能够进行分光光谱测定。标准设备光纤可支持多种测量系统，而不必确定样品种类。以显微分光、光源发光、透射·反射测量为首，通过与软件相结合，也能够应对物体颜色评价、膜厚测量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢
  • OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800
    MCPD-9800 OTSUKA大冢-多通道分光器 对应从紫外到近红外领域的多功能多通道分光检测器。*短5ms能够进行分光光谱测定。标准设备光纤可支持多种测量系统，而不必确定样品种类。以显微分光、光源发光、透射·反射测量为首，通过与软件相结合，也能够应对物体颜色评价、膜厚测量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800OTSUKA大冢
  • OTSUKA大冢-照度测量系统IL100
    IL100 OTSUKA大冢-照度测量系统 从分光放射照度测定中高精度地测定照度。 ·从紫外到可见、红外的广泛测量波长范围。 ·可以选择高斜入射特性等用途的照度头。 ·光合作用研究不可缺少的PFD、PPFD也可以测定。 ·专用软件点亮电源也统一控制。 OTSUKA大冢-照度测量系统IL100OTSUKA大冢-照度测量系统IL100OTSUKA大冢 是对基本的照度测定进行极限探究的装置
  • OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UV
    GP-7 series 1000UV OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UV
  • OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 600UV
    GP-7 series 600UV OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 60OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 600UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 600UV0UV
  • OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UV
    GP-7 series 300UV OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统 紫OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UV
  • OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-510U
    GP-510U OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-510UOTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-510U
  • OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-1100
    GP-1100 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-1100OTSUKA大冢-紫外分光配光测量
  • OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-500
    GP-500 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-500OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-500
  • OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000
    GP-2000 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量
  • OTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UV
    FM-9015UV OTSUKA大冢-UV测定装置 OTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UV
  • 单粒子荧光诊断系统Osuka大冢
    可以基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法* 进行测量。 * 与国立材料科学研究所、弘前直人研究员和武田隆研究员联合研究
  • 高速LED光学特性监视器LE Otsuka
    它是一种可以与生产线的控制信号同步，高速在线评估 LED 光学特性的设备。 LE-5400 提供质量控制所需的光学特性信息，例如 NG 判断和分类。
  • 光谱辐照度测量系统Otsuka大冢
    “光谱辐照度测量系统 IL100”评估光源的照度。 ・从光谱辐照度测量中高精度测量照度 ・ 从紫外线到可见光和红外线的宽测量波长范围・ 可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用 ・光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可 通过专用软件进行测量和照明 电源也是集体控制 这个设备追求到精良的基础照度测量。
  • 紫外光谱仪Otsuka大冢苏州售
    评估光源在紫外线区域的辐射。 ・ 通过光谱辐射度测量高精度测量亮度 ・ 支持紫外线、可见光和红外线的宽测量波长范围 ・ 可以进行光生物 **性评估 它是一种可以测量紫外线亮度的有限设备。
  • 紫外光谱辐照度测量系统Otsuka
    “紫外分光辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区的辐照度。 ・从光谱辐照度测量中高精度测量照度 ・ 从紫外线到可见光的宽测量波长范围 ・可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用 ・可以进行生物系统评估必不可少的PFD测量 它是一种即使在紫外线区域也能实现高精度测量的设备。 产品咨询
  • 紫外分光光度分布测量系统Otsuka
    评估 UV LED 的光分布特性。 ・基于辐射强度/辐照度的光分布评估 ・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度 可视化用于**和树脂固化的光源的不均匀照射。
  • 总辐射通量测量系统Otsuka大冢
    评估 UV LED 的辐射通量。 ・ 性能更高的紫外线 LED 的输出评估 ・ 温度评估与温度控制单元相结合 支持 紫外线 LED 的 光学特性评估，预计将被**、净化和树脂固化。
  • 总光通量测量系统 HM / FM Otsuka大冢
    它测量从 LED 到照明的各种光源的总光通量。 ・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围。 ・可以通过控制光源的加热/冷却来评估温度特性 。繁琐操作要求 测量精度高集成半球，样品组方便 测量大功率激光光源瓦级对应 测量系统对应任何场景总光通量测量多年经验，满足需求支持。
  • 光谱配光测量系统GPOtsuka大冢电子
    一种测量照明设备配光特性的装置。 ・使用内部开发的分光镜实现高精度测量！ -颜色可以与光分布数据一起测量！- 即使在光谱测量中也可实现相当于照度计类型的高速测量！ ・可根据配光测量结果进行照度分析！!! -符合标准测量系统！
  • 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢
    彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES
  • 小角激光散射仪PP-1000
    小角激光散射仪PP-1000 激光散射仪 小角PP-1000 小角激光散射仪PP-1000 小角激光散射仪PP-1000
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