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  • 多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA
    多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA 界达电位ELSZ 多检体NANO粒径测量系统 多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA
  • OTSUKA大冢界达电位ELSZ
    OTSUKA大冢界达电位ELSZ 粒径量测系统 OTSUKA大冢界达电位ELSZ
  • NIR 量子效率测量系统 QE-5000 Otsuka大冢
    可检测单线态氧（活性氧）
  • 量子效率测量系统 QE-2000 / 2100 Otsuka大冢
    可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）。与粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散光。此外，通过采用积分半球单元，可以实现明亮的光学系统，并通过利用这一点重新激发荧光校正，可以进行高精度的测量。此外，QE-2100 能够测量量子效率的温度依赖性，并支持从紫外到近红外的宽波长范围。
  • 分子量测量系统ELSZneoOtsuka大冢
    ELSZneo通过光散射评估物理特性 　　　　进入新阶段]这是 ELSZ 系列的*高型号，可测量稀溶液至浓溶液中的 zeta 电位和粒径以及分子量。作为一项新功能，我们采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。它还支持粒子浓度测量、微流变学测量和凝胶网络分析。 新型 zeta 电位板单元具有新开发的高盐浓度涂层，可在生理盐水等高盐浓度环境中进行测量。我们还有一系列超痕量细胞单元，可以测量 3 μL 的粒径，扩展了生命科学领域的可能性。
  • Zeta电位分子量测量系统ELSZ-2000ZS大冢Otsuka
    除了常规的zeta电位和粒度测量之外，它是一种可以用稀到浓溶液测量分子量的设备。 支持粒度测量范围（0.6 nm 至 10 μm）和浓度范围（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量为 130 μL 或更大的一次性电池进行测量，通过实际测量电渗流，可以实现高精度的 zeta 电位测量。 此外，通过在 0 至 90°C 的宽温度范围内自动进行温度梯度测量，可以进行变性/相变温度分析。
  • 日本大冢高感度分光放射亮度仪
    日本大冢高感度分光放射亮度仪HS-1000 日本大冢高感度分光放射亮度仪HS-1000 日本大冢高感度分光放射亮度仪HS-1000
  • 日本大冢高速配光测量系统GP-7
    日本大冢高速配光测量系统GP-7 日本大冢高速配光测量系统GP-7 日本大冢高速配光测量系统GP-7
  • 日本大冢分光配光测量系统GP-4000
    日本大冢分光配光测量系统GP-4000 日本大冢分光配光测量系统GP-4000 日本大冢分光配光测量系统GP-4000
  • 日本大冢分光配光测量系统GP-2000
    日本大冢分光配光测量系统GP-2000 日本大冢分光配光测量系统GP-2000 日本大冢分光配光测量系统GP-2000
  • 日本大冢分光配光测量系统GP-1100
    日本大冢分光配光测量系统GP-1100 日本大冢分光配光测量系统GP-1100 日本大冢分光配光测量系统GP-1100
  • 日本大冢分光配光测量系统GP-500
    日本大冢分光配光测量系统GP-500 日本大冢分光配光测量系统GP-500 日本大冢分光配光测量系统GP-500
  • 日本大冢高速LED光学特性仪
    日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400
  • 日本大冢全光束测量系统
    日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES
  • 日本大冢全光束测量系统
    日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES
  • 日本大冢高速近场配光测量系统
    日本大冢高速近场配光测量系统RH50 日本大冢高速近场配光测量系统RH50 日本大冢高速近场配光测量系统RH50
  • 日本大冢高速近场配光测量系统
    日本大冢高速近场配光测量系统RH1000 日本大冢高速近场配光测量系统RH1000 日本大冢高速近场配光测量系统RH1000
  • 日本大冢高速近场配光测量系统
    日本大冢高速近场配光测量系统RH600 日本大冢高速近场配光测量系统RH600 日本大冢高速近场配光测量系统RH600
  • 日本大冢高速近场配光测量系统
    日本大冢高速近场配光测量系统RH300 日本大冢高速近场配光测量系统RH300 日本大冢高速近场配光测量系统RH300
  • 日本大冢量子效率测量系统QE-2100
    日本大冢量子效率测量系统QE-2100 日本大冢量子效率测量系统QE-2100 日本大冢量子效率测量系统QE-2100
  • 日本大冢量子效率测量系统QE-2000
    日本大冢量子效率测量系统QE-2000 日本大冢量子效率测量系统QE-2000 日本大冢量子效率测量系统QE-2000
  • OTSUKA大冢 激光粒度仪
    界达电位OTSUKA大冢量子点评系统界达电位OTSUKA大冢量子点评系统 激光粒径分析仪 激光粒度仪 激光粒径仪 激光散射粒度分布仪 固体表面zeta电位 固体zeta电位 优良分子量测量 分子直径测量 分子量测量 粒度仪 粒径仪 粒度分析仪 粒度测定仪 zeta电位仪 zeta电位测试 zeta电位测量仪 zeta电位测试仪 纳米粒径分析仪 zeta电位测定仪 nanoSAQL 纳米粒度仪 ze
  • 界达电位OTSUKA大冢量子点评系统
    界达电位OTSUKA大冢量子点评系统界达电位OTSUKA大冢量子点评系统 激光粒径分析仪 激光粒度仪 激光粒径仪 激光散射粒度分布仪 固体表面zeta电位 固体zeta电位 优良分子量测量 分子直径测量 分子量测量 粒度仪 粒径仪 粒度分析仪 粒度测定仪 zeta电位仪 zeta电位测试 zeta电位测量仪 zeta电位测试仪 纳米粒径分析仪 zeta电位测定仪 nanoSAQL 纳米粒度仪 ze
  • 界达电位OTSUKA大冢量子点评系统
    界达电位OTSUKA大冢量子点评系统界达电位OTSUKA大冢量子点评系统 激光粒径分析仪 激光粒度仪 激光粒径仪 激光散射粒度分布仪 固体表面zeta电位 固体zeta电位 优良分子量测量 分子直径测量 分子量测量 粒度仪 粒径仪 粒度分析仪 粒度测定仪 zeta电位仪 zeta电位测试 zeta电位测量仪 zeta电位测试仪 纳米粒径分析仪 zeta电位测定仪 nanoSAQL 纳米粒度仪 zeta电位分析仪 粒径分析仪
  • OTSUKA大冢-量子点评系统
    OTSUKA大冢-量子点评系统 量子点材料具有根据粒子直径不同发光波长发生变化的特性。 在本系统中，在评价粒子直径以及分散稳定性的同时，也可以对荧光特性进行评价。 OTSUKA大冢-量子点评系统OTSUKA大冢-量子点评系统OTSUKA大冢-量子点评系统
  • 日本大冢低相位差高速检查设备
    日本大冢低相位差高速检查设备RE-200 日本大冢低相位差高速检查设备RE-200 日本大冢低相位差高速检查设备RE-200
  • OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备
    OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备RETS series OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备RETS series OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备RETS series
  • 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备
    日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100
  • 单元间隙检测装置RETS系列Otsuka
    支持从反射/透射型 LCD 填充单元到带滤色器的空单元的各种单元
  • 彩色滤光片光谱特性测量仪LCF系列Otsuka
    非常适合FPD生产过程中的所有检测，如滤色片光学特性检测和玻璃基板膜厚检测。
  • 非接触式光学深度计 Emios Otsuka大冢
    “一步操作”是一种追求用户友好性的设备，无需任何繁重的工作，设置样品即可立即看到结果。 该设备旨在缩短检测过程，无需校准曲线即可高精度、高分辨率地轻松找到优良厚度。 由于使用了大冢电子开创的光学方法，因此可以在不接触的情况下高精度测量不透明、粗糙表面和容易变形的样品，同时节省空间。
  • 超快光谱干涉式测厚仪Otsuka大冢
    它以非接触方式测量晶片等的研磨和抛光过程，具有超高速、实时和高精度的晶片和树脂。
  • 光谱椭偏仪 FE-5000 / 5000S Otsuka大冢
    除了可实现高精度薄膜分析的光谱椭偏仪外，我们还通过实施自动可变测量机制支持所有类型的薄膜。除了传统的旋转光子检测器方法外，还通过为延迟板提供自动安装/拆卸机制来提高测量精度。
  • 嵌入式膜厚监控器Otsuk大冢苏州售
    实现具有波长依赖性的高精度多层膜测量
  • 膜厚监测仪 FE-300 Otsuka大冢苏州售
    它是一种紧凑、低成本的薄膜厚度计，它通过简单的操作实现了高精度光学干涉测量的薄膜厚度测量。 我们采用一体式外壳，将必要的设备安装在主体中，实现了稳定的数据采集。 通过以低廉的价格获得**反射率，可以分析光学常数。
  • 显微光谱 OPTM Otsuka大冢苏州售
    它是一种通过使用显微光谱测量微小区域内的优良反射率，实现高精度膜厚和光学常数分析的设备。 可以以非破坏性和非接触的方式测量各种薄膜、晶片、光学材料和多层薄膜等镀膜的厚度。可进行1秒/点测量时间的高速测量。它还配备了软件，即使是初学者也可以轻松分析光学常数。
  • 光谱辐射计 HS-1000Otsuka大冢苏州售
    能够从低亮度到高亮度进行高速、高精度测量的光谱辐射亮度计。 大冢电子独特的光谱光学设计和信号处理电路采用电子冷却线阵传感器，实现了在宽亮度范围和波长范围内的低噪声和高精度测量。
  • 多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800Otsuka大冢
    支持紫外到近红外区域的多功能多通道光谱检测器。光谱光谱可以在*少 5 ms 内测量。标准光纤可以在不指定样品类型的情况下支持各种测量系统。除了显微光谱、光源发射、透射/反射测量外，还可以通过结合软件支持物体颜色评估、膜厚测量等。
  • MITAKA三鹰多功能一体机系列MLP-3SP江苏
    MITAKA三鹰非接触式全方位轮廓测量MLP-3SP擅长的领域是传统坐标测量机、投影仪和激光显微镜无法实现的。 点自动对焦探头和每个轴的控制，包括旋转，解决了困扰操作员的问题。
  • MITAKA三鹰光器非接触精密激光探针MP
    小型激光探针单元MP系列 非接触式测量在任何环境中进行非接触式精密测量 通过将其集成到加工机或在线设备中，可以在机器上进行形状测量，这通常是在单独的过程中进行的，有助于提高超精密加工的精度和质量控制的合理化。
  • NH-3MAs非接触式三坐标测量机MITAKA三鹰光器
    MITAKA三鹰光器NH-3MAs非接触式三坐标测量机微透镜阵列（MLA）形状光学表征设备它配备了NH系列的所有基本形状测量功能，可以测量透镜和模具的横截面形状，并用专用软件集体测量曲率和中心坐标。
  • 总代MITAKA三鹰光器3D轮廓仪测量半导体NH-4Ns
    MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定NH-4Ns可NH系列实现了高精度和易用性， 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接测量透明物体，例如镜面和透镜
  • MITAKA三鹰光器粗糙度仪测量半导体NH-3Ns
    MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定NH-3Ns可NH系列实现了高精度和易用性， 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接测量透明物体，例如镜面和透镜
  • 上海MITAKA三鹰光器3D轮廓仪粗糙度仪NH-3MA
    MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定NH-3MA可NH系列实现了高精度和易用性， 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接测量透明物体，例如镜面和透镜
  • MITAKA三鹰光器大型精密模具的测量NH-5Ns
    MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定NH-5Ns可NH系列实现了高精度和易用性， 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接测量透明物体，例如镜面和透镜
  • 江苏MITAKA三鹰光器3D面轮廓粗糙度测定NH-3SPS
    MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定NH-3SPS可NH系列实现了高精度和易用性， 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接测量透明物体，例如镜面和透镜
  • 总代MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定PF-60
    MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定PF-60可实现50倍折射率测量速度的扫描自动AF功能和高精度自动XY载物台，以亚微米级测量精度实现数十毫米宽范围的高速测量。 它非常适合测量横截面曲线无法检测到的精密加工零件的翘曲、成型品中的形状缺陷以及摩擦学中磨损和划痕的定量评估。
  • 上海MITAKA三鹰小型激光探针单元MP系列
    MITAKA三鹰光器株式会社成立于1966年，致力于生产、制造高精度光电技术相关产品。总公司坐落于东京都三鹰市，于日本有4处分公司。 自昭和41年5月成立三鹰工业株式会社以来，我们一直以创造和信任为主题。 在空间观测仪器的设计和制造方面，我们利用自成立以来培养的技术能力，在高精度天文望远镜、光学测量设备和医疗设备等各个领域得到了客户的高度评价。 未来，所需的产品将日新月异，但我们将始终响应任何客户需求，不断掌握客户所需产品的变化，并努力开发更好的产品​ 公司主要产品包括：医疗设备、天文观测系统、航天开发设备、工业测量仪器、新能源。 日本MITAKA三鹰光器​非接触式3D轮廓仪， 日本MITAKA三鹰光器​粗糙度仪， 在任何环境中进行非接触式精密测量 通过将其集成到加工机或在线设备中，可以在机器上进行形状测量，这通常是在单独的过程中进行的，有助于提高超精密加工的精度和质量控制
  • 非接触式三坐标测量机MA系列MITAKA三鹰
    MITAKA三鹰光器微透镜阵列（MLA） 形状光学表征设备 它配备了NH系列的所有基本形状测量功能，可以测量透镜和模具的横截面形状，并用专用软件集体测量曲率和中心坐标。
  • MITAKA三鹰非接触式坐标测量装置NH-4Ns无锡
    MITAKA三鹰光器 NH-4Ns非接触式坐标测量装置NH-3SP系列实现了高精度和易用性， 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象 的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接 测量透明物体，例如镜面和透镜
  • 南京三鹰MITAKA非接触式坐标测量装置NH-3Ns
    MITAKA三鹰光器非接触式坐标测量装置NH-3SP系列实现了高精度和易用性， 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象 的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接 测量透明物体，例如镜面和透镜
  • MITAKA三鹰光器透镜光学特性和形状NH-3MA
    MITAKA三鹰光器MITAKA三鹰非接触式坐标测量装置NH-3SP系列实现了高精度和易用性， 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象 的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接 测量透明物体，例如镜面和透镜
  • 浙江MITAKA三鹰大型精密模具的测量NH-5Ns
    MITAKA三鹰光器NH-5NsMITAKA三鹰非接触式坐标测量装置NH-3SP系列实现了高精度和易用性，解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接测量透明物体，例如镜面和透镜
  • MITAKA三鹰光器非接触式坐标测量装置NH-3SP
    MITAKA三鹰光器MITAKA三鹰非接触式坐标测量装置NH-3SP系列实现了高精度和易用性， 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象 的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接 测量透明物体，例如镜面和透镜
  • 苏州MITAKA三鹰非接触式表面纹理测量PF-60
    MITAKA三鹰光器MITAKA三鹰非接触式表面纹理测量装置PF-60可实现50倍折射率测量速度的扫描自动AF功能和高精度自动XY载物台，以亚微米级测量精度实现数十毫米宽范围的高速测量。 它非常适合测量横截面曲线无法检测到的精密加工零件的翘曲、成型品中的形状缺陷以及摩擦学中磨损和划痕的定量评估。
  • 塔玛萨崎EYE岩崎照明
    JIL 5510 获得 清洁能源，环保照明 LED 太阳能灯将阳光转换为电能，并储存在蓄电池中，用于夜间照明。 有效保护环境和应对灾害。 通过改变**灯的规格，进一步节约能源。
  • 塔玛萨崎EYE岩崎景观照明
    适合历史景观地区和古朴的空间 LED 路灯适合历史景观，通过均匀发光的乳白色手套的漫射光与日式设计灯具相结合。
  • 塔玛萨崎EYE岩崎照明
    采用环状设计，利用LED作为小型光源的特点，并有效地控制所有方向的光分布。 LED 路灯可控制亮度和光源颜色，提供适合应用和时区的*佳照明，而不仅仅是传统的照明。
  • 塔玛萨崎EYE岩崎照明
    新的 LED 路灯，营造出“这里好”的景观。 我们提出“光的理想方式”，作为一个整体景观，根据眩光的抑制和周围的亮度，而不是单一的灯具。
  • 塔玛萨崎EYE岩崎
    LED 路灯，可直接使用现有杆 汞灯的阵容从相当于100W到400W不等。 任何城市都**地融合了选项。 设计优良，也很好地覆盖了光损害对策。
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苏公网安备 32050502000409号