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代理日本品牌：OTSUKA大塚电子（薄膜测厚仪、相位差膜设备等）、USHIO牛尾点光源、CCS检查光源、Aitec艾泰克、REVOX莱宝克斯、ONOSOKKI小野测器、YAMATO雅马拓、KOSAKA小坂台阶仪、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壶坂电机、NEWKON新光、TOKISANGYO东机产业、tokyokeiso东京计装、leimac雷马克、MIKASA米卡萨匀胶机、COSMO科斯莫、SAKURAI樱井无尘纸、TOE东京光电子、EYE岩崎UV灯管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV爱睦威地震仪、HOKUYO北阳电机、SAKAGUCHI坂口电热、ThreeBond三键胶水等.
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OTSUKA大塚电子MCPD-6800多通道光谱仪塔玛萨崎电子代理这是一款多通道多通道光谱仪，适用于紫外到近红外范围。 光谱测量可在短短 5 ms 内完成。 标准仪器的光纤允许各种测量系统，而无需指定样品种类。 除了显微光谱、光源发光、透射和反射测量外，它还可以与软件结合使用，以评估物体的颜色和薄膜厚度。
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OTSUKA大塚电子MCPD-9800多通道光谱仪塔玛萨崎电子代理这是一款多通道多通道光谱仪，适用于紫外到近红外范围。 光谱测量可在短短 5 ms 内完成。 标准仪器的光纤允许各种测量系统，而无需指定样品种类。 除了显微光谱、光源发光、透射和反射测量外，它还可以与软件结合使用，以评估物体的颜色和薄膜厚度。
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OTSUKA大塚电子OPTM-A3光学测量膜厚计塔玛萨崎电子用简单操作实现了高精度的光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。采用了将必要的机器收纳在本体部的多功能一体式机箱，实现了稳定的数据获取。虽然价格低，但通过取得**反射率，也可以分析光学常数。
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OTSUKA大塚电子OPTM-A2光学测量膜厚计塔玛萨崎电子用简单操作实现了高精度的光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。采用了将必要的机器收纳在本体部的多功能一体式机箱，实现了稳定的数据获取。虽然价格低，但通过取得**反射率，也可以分析光学常数。
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OTSUKA大塚电子OPTM-A1光学测量膜厚计塔玛萨崎电子用简单操作实现了高精度的光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。采用了将必要的机器收纳在本体部的多功能一体式机箱，实现了稳定的数据获取。虽然价格低，但通过取得**反射率，也可以分析光学常数。
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OTSUKA大塚电子FE-300F光学测量膜厚计塔玛萨崎电子用简单操作实现了高精度的光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。采用了将必要的机器收纳在本体部的多功能一体式机箱，实现了稳定的数据获取。虽然价格低，但通过取得**反射率，也可以分析光学常数。
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OTSUKA大塚电子ELSZneo粒径仪 带AS50塔玛萨崎电子代理ELSZneo通过光散射评估物理性能到一个新的阶段。除了在稀溶液~浓溶液中测量zeta电位和粒径外，还可以测量分子量。 作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。 它还可用于凝胶的颗粒浓度测量、微流变测量和网络结构分析。
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OTSUKA大塚电nanoSAQLA粒径仪塔玛萨崎电子代理ELSZneo通过光散射评估物理性能到一个新的阶段。除了在稀溶液~浓溶液中测量zeta电位和粒径外，还可以测量分子量。 作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。 它还可用于凝胶的颗粒浓度测量、微流变测量和网络结构分析。
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OTSUKA大塚电子ELSZneoSE粒径仪塔玛萨崎电子代理ELSZneo通过光散射评估物理性能到一个新的阶段。除了在稀溶液~浓溶液中测量zeta电位和粒径外，还可以测量分子量。 作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。 它还可用于凝胶的颗粒浓度测量、微流变测量和网络结构分析。
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OTSUKA大塚电子ELSZneo粒径仪塔玛萨崎电子代理ELSZneo通过光散射评估物理性能到一个新的阶段。除了在稀溶液~浓溶液中测量zeta电位和粒径外，还可以测量分子量。 作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。 它还可用于凝胶的颗粒浓度测量、微流变测量和网络结构分析。
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司江苏代理OTSUKA大塚电子晶圆测厚系统 GS-300实现嵌入晶圆中的布线图案的图案对齐 GS-300满足半导体工艺的高通量需求 GS-300支持凹口对齐功能
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理OTSUKA大塚电子SF-3晶圆非破坏性测厚仪SF-3以超高速实时和高精度测量晶圆和树脂的非接触研磨和抛光过程。SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
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OTSUKA大塚电子椭圆偏振光谱仪代理 FE-5000S塔玛萨崎电子（苏州）有限公司 FE-5000S除了可实现高精度薄膜分析的椭圆偏振光谱外， FE-5000S还可以通过实施自动可变测量角度机制来处理所有类型的薄膜。 除了传统的旋转分析仪方法外，通过安装自动延迟板分离机构提高了测量精度。
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OTSUKA大塚电子椭圆偏振光谱仪代理 FE-5000塔玛萨崎电子（苏州）有限公司 FE-5000除了可实现高精度薄膜分析的椭圆偏振光谱外， FE-5000还可以通过实施自动可变测量角度机制来处理所有类型的薄膜。 除了传统的旋转分析仪方法外，通过安装自动延迟板分离机构提高了测量精度。
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司OTSUKA大塚电子MCPD-6800中国代理多通道光谱仪这是一款多通道多通道光谱仪，适用于紫外到近红外范围。 除了显微光谱、光源发光、透射和反射测量外，它还可以与软件结合使用，以评估物体的颜色和薄膜厚度。
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司OTSUKA大塚电子MCPD-9800中国代理多通道光谱仪这是一款多通道多通道光谱仪，适用于紫外到近红外范围。 除了显微光谱、光源发光、透射和反射测量外，它还可以与软件结合使用，以评估物体的颜色和薄膜厚度。
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司江苏代理OTSUKA大塚 显微分光膜厚仪OPTM SERIES 测量各种薄膜，晶圆，光学材料等涂层薄膜的厚度，以及多层薄膜的厚度，而不会具有破坏性和非接触性。
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta电位，粒径，分子量测量系统 ELSZneo OTSUKA大塚椭圆光谱仪 FE-5000/5000S
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本装置是使用JIMRO株式会社的血细胞去除净化器“Adacolumn”去除血液中的粒细胞和单核细胞，以低流量进行体外血液循环的装置。细胞。 （医疗器械批准文号22800BZX00360000）
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3 C 使用带有医疗设备的呼气收集袋进行测量，该医疗设备用于使用尿素制剂的尿素呼气测试方法的呼气分析。它利用了 碳同位素12 CO 2和13 CO 2之间吸收的差异。 （医疗器械批准文号：23000BZX00214000）
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是*适合Point Of Care Testing(POCT)的超小型**层析器。 OTSUKA大冢 医用机器荧光**色谱仪 DiaScanα OTSUKA大冢 医用机器荧光**色谱仪 DiaScanαOTSUKA大冢 医用机器荧光**色谱仪 DiaScanα
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本装置用于利用株式会社JIMRO的血细胞去除用净化器“阿达柱”去除血液中的颗粒球及单核细胞，是为了在低流量进行血液的体外循环的专用血球细胞去除装置. OTSUKA大冢 医用机器血细胞**装置 Adamonitor SC OTSUKA大冢 医用机器血细胞**装置 Adamonitor SCOTSUKA大冢 医用机器血细胞**装置 Adamonitor SC
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ELSZ-2000ZS OTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统 OTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZSOTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZSOTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZS
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NS-Prime OTSUKA大冢-血球细胞去除用装置监视器 通过金胶体比色法，全自动航班中人海莫格罗宾分析装置可在航班中进行精密测量。 医疗机器备案号码27B1X00055000008OTSUKA大冢-离散方式临床化学自动分析装置NS-PrimeOTSUKA大冢-离散方式临床化学自动分析装置NS-PrimeOTSUKA大冢-离散方式临床化学自动分析装置NS-Prime
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MM6-N OTSUKA大冢-血球细胞去除用装置监视器 动物监视器细胞细胞除去用净化器用细胞细胞除去为了进行使用的装置。 每分钟30毫升的低速稳定的流量也可以保证。 装置内各种传感器被编入，这些传感器异常敏感的**机构工作。OTSUKA大冢-血球细胞去除用装置监视器MM6-NOTSUKA大冢-血球细胞去除用装置监视器MM6-NOTSUKA大冢-血球细胞去除用装置监视器MM6-NOTSUKA大
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POCone OTSUKA大冢-医用机器 是测量在呼气中的二氧化碳的同位体比（13C / 12C）的变化量的红外光分析装置。OTSUKA大冢-医用机器POConeOTSUKA大冢-医用机器POConeOTSUKA大冢-医用机器POConeOTSUKA大冢-医用机器POCone
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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000S
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Agilent 7100 OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统 阳离子和阴离子等不同的成分可以用一台装置进行分析。 用微量样品可以进行短时间、高分辨率的分析。 OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100
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DRM-3000 OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计 可以根据静光散射法的重量平均分子量决定的dn / dc测量。 OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000
